幹擾局部放電測（cè）試（shì）儀試驗的途徑（jìng）及（jí）類型介（jiè）紹

幹擾將會降低局部放電測試儀試驗的檢測靈敏度，試驗時，應使幹擾水平抑（yì）製到*低水平。幹（gàn）擾類（lèi）型通（tōng）常有：電源幹（gàn）擾、接地係統幹擾（rǎo）、電磁輻射幹擾、試驗設備各元件的（de）放電幹擾及各類接觸幹擾。這些幹擾及（jí）其進入試驗回路的途徑。 

a.電源幹擾。檢測儀及試驗變壓器所用的電源是與低壓配電網相（xiàng）連的，配電網內（nèi）的（de）各種高頻信（xìn）號均能直接產生幹擾。因此，通常采用屏（píng）蔽式電源隔離變壓器及低通濾波器（qì）抑製，效果（guǒ）甚好。 

b.接地幹擾。試驗回路（lù）接地方式不當，例如兩點及以上接地的（de）接（jiē）地（dì）網係統中，各種高頻信號會經接地線耦（ǒu）合到試驗回路產生幹擾。這種幹擾一般與試（shì）驗電壓（yā）高低無關。試驗回路采用一點接地，可降低這種幹擾。 

c.電磁輻射幹擾。鄰近高壓帶電設備或高壓（yā）輸（shū）電線路，無（wú）線電發射器（qì）及其它諸如可控（kòng）矽、電刷等試驗回路以外的高頻信號，均會以電磁感應、電磁輻（fú）射的形式經（jīng）雜散電容或雜散電感（gǎn）耦合到試驗回路，它的波形往往與試品內部放電不易區分，對（duì）現場測量影響較大。其特點是與試驗電壓（yā）無關。消除這種幹擾的根本（běn）對策是將試品置於屏（píng）蔽良好的試驗（yàn）室。采用平衡（héng）法、對稱法和模擬（nǐ）天線法的（de）測試回路，也（yě）能抑製輻射幹擾。 

d.懸浮電位放電幹擾。鄰近試驗回路的不接地（dì）金屬物產生的感應懸浮電位（wèi）放電，也是（shì）常見的一種幹（gàn）擾。其特點（diǎn）是隨試驗電壓升高而增大，但其波形（xíng）一般（bān）較易識別（bié）。消除的對策一（yī）是搬離，二是接地。 

e.電暈放電和各連接處接（jiē）觸放電的幹擾。電暈放電產生於試驗回路處於高電位的導電部分，例（lì）如試品的法蘭、金屬蓋帽、試驗（yàn）變壓器、耦（ǒu）合電容器端部及高壓引線等**部分。試驗回路中由於（yú）各連接（jiē）處接觸**也會產生接觸放電幹擾。這兩種幹擾的特性是隨試驗電（diàn）壓的升高（gāo）而增大。消除（chú）這種幹擾是在高（gāo）壓（yā）端（duān）部采用防暈措施(如防暈環等)，高壓引線采用無暈的導電（diàn）圓管，以及保證各連接部位的良 好接觸（chù）等。 

f.試驗變壓器和耦合電容器內部放（fàng）電幹（gàn）擾。這種（zhǒng）放電容（róng）易和試品內部放（fàng）電相混淆。因此，使用的試驗變壓器和耦合電容器的局部放電水平應控製在一定的允許量（liàng）以（yǐ）下。