一 LYJS9000G絕緣電阻功(gōng)能抗幹擾雙變頻介質(zhì)損耗測試儀概 述
LYJS9000G介損測試(shì)儀是發電廠、變電站(zhàn)等(děng)現場或實驗室(shì)測(cè)試各種高壓電力設備介損正切值及電容量的高精度測試儀器。儀器為一體化結(jié)構,內置介損測試電橋,可變頻調壓電源,升壓變(biàn)壓器(qì)和(hé)SF6 高穩定度標準電容器。測試高壓源(yuán)由儀(yí)器內部的逆(nì)變器產生,經變壓器升壓後用於被試品(pǐn)測試。頻率可變為50Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz,采用數字陷波技術,避開了(le)工頻電場(chǎng)對測試(shì)的幹擾(rǎo),從根本上解決了強電場幹擾下準確測量的難(nán)題。同(tóng)時適用於全部(bù)停電後用發電機供電(diàn)檢測的場合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測試絕緣(yuán)油介(jiè)質損耗(hào)。
儀器主要具有如下特點:
絕緣電阻測試
儀器集成絕緣電(diàn)阻測試模塊,可進行極化指數、吸收比以及絕緣電阻(zǔ)的測試(shì)。
LCR全自動測量
全自動電感、電容、電阻測量,角度顯示(shì)。
多種測試模式
儀器能夠分別使用內(nèi)高壓(yā)、外高壓、內標準、外標準、正(zhèng)接法(fǎ)、反接法(fǎ)、自激法等多(duō)種方(fāng)式測試;在外標(biāo)準外高壓情況下可以做(zuò)高電壓(大於10kV)介質損耗。
CVT測試一步到位(wèi)
該儀器還可以測試全密封的CVT(電容(róng)式(shì)電壓互感器)C1、C2的介損和電容量,實現了C1、C2的同時測試。該儀(yí)器還可以測試(shì)CVT變比和電壓角差。
不拆高壓(yā)引線測量CVT
儀器可在不拆除CVT高壓引線的情(qíng)況下正確測量CVT的介質損耗值和(hé)電容值。
CVT反接(jiē)屏蔽(bì)法測量(liàng)C0
儀器可采用反接屏蔽法測量CVT上端C0的介(jiè)質損耗值和電容值。
多重保護**可靠
儀器具備輸入電壓波(bō)動、高壓電流、輸出(chū)短路、電(diàn)源(yuán)故障、過壓、過流、溫度(dù)等多重保護措施,保證(zhèng)了儀器**、可(kě)靠。儀器還具備設置接地檢測功能,確保不接(jiē)地(dì)設備不允許升壓。
高速(sù)采樣信號
儀器內部的逆變器和采樣電路全部由數字化控製,輸出電壓連續可調。
海量存儲數據
儀器內部配備有日曆芯片和大容量存儲器,保存數據200組,能將檢測結(jié)果按時間順序保存,隨時可以查看曆史記錄,並可以打印輸出(chū)。
超大液晶中文顯示
操作簡單,儀器配備了優異的全觸摸液(yè)晶顯示屏(píng),超大全觸摸操作界麵,每過程都非常清晰明了,操作人員(yuán)不需要額外的專業培訓就能使用。輕輕點擊一下就能完成整個過程的測量,是目前非常理想的智能型介損測量設備。
二(èr) LYJS9000G絕(jué)緣電阻功能抗幹擾雙變(biàn)頻介質損耗測試儀工作原理
圖 2—1 測量原理圖
三(sān) LYJS9000G絕緣電阻功能抗幹擾雙變頻介質損耗測試儀主要(yào)技術參數
1
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使用條件
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-15℃∽40℃
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RH<80%
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2
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抗幹擾原理
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變頻法
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3
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電 源(yuán)
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AC 220V±10%
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允許發電機(jī)
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4
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高壓輸出
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0.5KV∽10KV
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每隔0.1kV
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精度:2%
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*大電流
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200mA
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容量
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2000VA
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45HZ/55HZ 47.5HZ/52.5HZ
55HZ/65HZ 57.5HZ/62.5HZ 自動雙變頻
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5
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自(zì)激電源
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AC 0V∽50V/15A
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6
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分 辨 率
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tgδ: 0.001%
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Cx: 0.001pF
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7
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精 度
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△tgδ:±(讀數*1.0%+0.040%)
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△C x :±(讀數*1.0%+1.00PF)
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8
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測量範圍
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tgδ
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無限製
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C x
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15pF < Cx < 300nF
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10KV
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Cx < 60 nF
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1KV
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Cx < 300 nF
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CVT測試
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Cx < 300 nF
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9
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LCR測量範圍
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L>20H(2kV)
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R>10KΩ(2kV)
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精度:0.1%
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分辨率:0.01
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10
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CVT變比範(fàn)圍
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10∽10000 精度(dù)0.1%
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分辨率:0.01
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11
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絕(jué)緣電阻
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直流(liú)高壓0.5-10KV 精(jīng)度:±(讀數(shù)×2%+10V)
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100kΩ-1000GΩ時(shí)低於(yú)5%(試驗電壓不低於250V)
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100GΩ-1000GΩ時為10%(試驗電壓(yā)不(bú)低於10000V)
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12
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外型尺寸(主機)
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350(L)×270(W)×270(H)
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外型尺寸(附件箱(xiāng))
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350(L)×270(W)×160(H)
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13
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存儲器大小
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200 組 支持U盤數據存儲
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14
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重量(主機):22.75Kg
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重(chóng)量(liàng)(附件(jiàn)箱):5.25Kg
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四 LYJS9000G絕緣電阻功能抗幹擾雙變頻(pín)介質損耗測試儀麵板(bǎn)說(shuō)明
1.緊急停機按鈕及高壓指(zhǐ)示燈
2.複位按鈕
3.U盤接口
4.總電源開關
5.AC220V電源輸入插座(zuò)
6.Cn:標準電容輸(shū)入插座(zuò)
7.Cx:試品輸入插座(zuò)
8.觸摸顯示屏
9.接地接線柱
10.ES自激(jī)輸出
11.打印機
12.高壓輸出HV插座
4.1、緊急停機按鈕及高壓指示燈
安裝位置:如圖4—1— eq \o\ac(○,1)1。
功 能:在儀器測試過程中有高壓輸出時,遇緊急情況需要斷開高壓輸出,即可按下緊(jǐn)急停機按鈕立(lì)即從內部切(qiē)斷高壓輸(shū)出;按鈕內置指(zhǐ)示燈(dēng)作為高壓輸出指示(shì)燈。
4.2、複位按鈕
安裝位置:如圖(tú)4—1— eq \o\ac(○,2)2。
功 能:提供儀器複位功能。
4.3、U盤接口
安(ān)裝(zhuāng)位置:如圖(tú)4—1—③。
功 能:可把儀器內部(bù)保存的(de)測試數據導入並保存到U盤中。
注 意:數據傳輸過程當中嚴禁拔出U盤,隻有當數據傳輸完畢後並(bìng)且液晶屏上出現拔(bá)出U盤的提示後,方可拔出U盤,否(fǒu)則有可能燒毀U盤(pán)。
4.4、總電源開關
安裝位(wèi)置:如圖4—1—④。
功 能:打開此關,儀器(qì)上電進入工作狀態。關閉(bì)此開關,也同時(shí)關閉儀器內部(bù)所有電源(yuán)係(xì)統(tǒng),緊(jǐn)急情(qíng)況應立即關閉此開關並拔掉輸入電源線。
4.5、電源輸入插座
安裝位置:如圖4—1—⑤。
功 能:提(tí)供儀器工作電(diàn)源。(AC
220V±10%)
接線方法(fǎ):使用(yòng)標準插座與市電或發電機相連接。
注(zhù) 意:電源插座內部帶有保險管保護裝置,不正常情(qíng)況下可燒毀保(bǎo)險管保使儀器斷電,保護儀器(qì)內部。
4.6、標準電容器輸入Cn插座
安裝位置:如圖4—1—⑥。
功 能:外接標(biāo)準測試信號。
接線(xiàn)方法:外(wài)標準測試時電纜芯線接標準電容測試端,電纜屏蔽層(céng)接標準電容器屏(píng)蔽極。外(wài)標準測試時不管是正接法還是反接法測(cè)量,標準電容器接線(xiàn)方法不變。此方式用於外接高電壓等級標準電容器,實現高電(diàn)壓介(jiè)質損耗測量。
4.7、試品低壓輸入Cx插座
安裝位置:如圖(tú)4—1—⑦。
功 能:正(zhèng)接法時輸入被試品測試信號。
接線方法:插座中心連接黑色信號線芯線;金屬外殼接(jiē)黑(hēi)色信號線屏蔽(bì)層;正接法時芯線接被試品低壓信號端,若(ruò)被試品低壓信號端有屏蔽極(如低壓端的屏蔽環),則可將屏蔽層接於屏蔽極,無屏蔽極時屏蔽層(céng)懸空。
注 意:
· 在啟動測試的過程中嚴禁拔(bá)下插頭,以防被試品電流經人(rén)體入地。
· 用標(biāo)準介損器或標準電容器檢測正(zhèng)接法精度(dù)時,應使用全屏蔽插(chā)頭連(lián)接介損器或標準電容器,否則暴露的(de)芯線可能受到幹擾引起誤差。
· 測試(shì)過(guò)程(chéng)中應保證插座中心測試芯線(xiàn)與被試品低壓端零電阻連接,否則可能引(yǐn)起測量(liàng)結果的數據波動。
· 強幹擾下拆除(chú)接線時(shí),應(yīng)在保持電纜接地狀態下斷開連接,以防感應電擊。
4.8、觸摸顯示屏(píng)(液晶屏應避免長時間陽光暴曬(shài),避免(miǎn)重物擠(jǐ)壓和利器劃傷)
安裝位置(zhì):如圖4—1— eq \o\ac(○,8)8。
功 能:全觸摸大屏幕(120mm×90mm)中文顯示,每一步操(cāo)作清晰明了。
4.9、接地接線柱
安裝位置:如圖4—1—⑨。
功 能:儀器(qì)保護接地。
注 意(yì):儀器內部自帶接地保(bǎo)護(hù)裝置,測試中應當保證(zhèng)可靠接入地網。否則儀器將自動產生保(bǎo)護不開始(shǐ)升壓測試。
4.10、ES自激(jī)輸出
安裝位置:如圖4—1—⑩。功 能:自激輸出,儀器內部為自激輸出變壓器的一端(變壓器另一端已接地),自(zì)激法測試CVT介損時連(lián)接到CVT的自激線圈(da)上,dn接地,為CVT提供測(cè)量所(suǒ)需高壓電源。
注 意:
因低壓輸出電流大,應采用儀器專用連接線連接到CVT二(èr)次(cì)繞組並(bìng)使其接觸良(liáng)好,選擇正、反接法測量時,此輸出關(guān)閉。
4.11、打印機
安裝位(wèi)置:如圖4—1— eq \o\ac(○,11)11。
功 能:顯示可打印數據(jù)時,將(jiāng)光標移(yí)動至“打印(yìn)”項按確認鍵打印。
注 意:打印機為全自動熱敏打印機,打印紙寬55mm。更換打印紙時(shí)請使用熱(rè)敏打印機專用打印紙,首先扳起打印機旁邊角(jiǎo),打開打印機蓋板,然後按順序將打印紙放入打印(yìn)紙倉(cāng)內並留少許部分在外麵,*後合(hé)上打印機蓋板。
4.12、高壓輸出HV插座(zuò)
安裝位置:如圖4—2—⑫,外設(shè)保護門。
功 能: 儀器變頻高壓(yā)輸出;檢測反接線試品電(diàn)流;內部標準電容器的高壓端。
接線方法:插座中心連接紅色高(gāo)壓線芯線;金屬外(wài)殼連接紅色高壓線屏 蔽層;正接法時芯線和屏蔽層(céng)都可以作加壓線對(duì)被試品高壓端加壓;反接法時隻能用芯線對(duì)被試品高壓端加壓,若試品高壓端有屏蔽極(如(rú)高壓(yā)端的屏蔽(bì)環),則可將屏蔽層接於屏蔽極,無屏蔽極時屏蔽層懸空。
注 意:· 在啟動(dòng)測試的過程中此插座帶(dài)有高壓有觸電危(wēi)險,優(yōu)良禁止觸碰高壓插(chā)座及與之相連的相關設備。
· 用(yòng)標準介(jiè)損器或標準電容器檢測正接法精度時,應使用全屏蔽插(chā)頭連接介損器或標準電(diàn)容器,否則(zé)暴露的芯線可能受到幹擾(rǎo)引起誤差。
測試過程中應保證插座中心紅色高壓線芯線與被試品高壓端零電阻連接,否則可能引起測量結果的數據波動。
五 LYJS9000G絕緣電(diàn)阻功能抗幹擾雙變頻介質損耗測試(shì)儀使用說明
5.1、主菜單(dān)
打開電源(yuán)開關,進入主菜單(如圖5—1);選擇界麵右邊相應的測試選項進行測量。
※ 注(zhù): 儀器啟動測試後,緊急情況(kuàng)若停(tíng)止,隻(zhī)能(néng)按緊(jǐn)急停機,不要按複位。
5.2、一(yī)般測試
首先根(gēn)據相應的接線提(tí)示接好儀器外部與被試品之間的連線,然後點擊主界麵“一(yī)般測試”選項(xiàng),進入下(xià)上等一般測(cè)試菜單(如圖(tú)5—2)。然後可以點擊“參數設置”進去設置菜單(如圖5—3)進行詳細的測試參數設置。
分別點擊每個需要設置的項目,按“增(zēng)加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成後點擊“保存(cún)”即可保存剛(gāng)才所修改的(de)參數並返回一般測試界麵,點擊“取消(xiāo)”則不保存本次修改並返回一般測試界(jiè)麵。
相關(guān)參數設置好了後長按(àn)“啟動測試”單,進入測試菜單。測試過程(chéng)中電壓值一項是根據先前所選擇的(de)測試電(diàn)壓平滑上升至設置值後保持不變,然(rán)後自動開始測試。開始(shǐ)測試後根據先前(qián)所選擇的測試頻率自動變(biàn)頻到各相應的頻率進行測試(shì),測試完成後自動(dòng)顯示測試結果(如圖5—4);測試結果自動保存,可點擊(jī)“打印”按鈕(niǔ)打印本次測試結果。
注 意:每一(yī)種測試的具(jù)體參數設置和接線方法請(qǐng)查看第六章“參考接線”
。
5.3、CVT測試
首先根據相應的接線提示接好儀器外部的連線,然(rán)後點擊(jī)主界麵“CVT測試”選項,進入下上等CVT測試菜單(如圖5—5)。然後(hòu)可以點擊“參數設置”進去設置(zhì)菜單(如圖5—6)進行詳細的(de)測試參(cān)數設置。分別(bié)點擊每個需要設置的項目,按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成後點擊“保存”即可保存剛才所修改(gǎi)的參數並返回CVT測試界麵,點擊“取(qǔ)消(xiāo)”則不保存本次修改並返(fǎn)回CVT測試界麵。
相(xiàng)關參數設置好了後長按“啟動測試”單,進入測試菜單(如(rú)圖5—7)。測試過程中(zhōng)電壓值一項是根據先前所選擇的測試電壓平滑至設置值後保持不變,然後自動開始測試。開始測試後根據先前所選擇(zé)的幹擾(rǎo)頻率自動(dòng)變頻到相應的頻率進行測(cè)試(shì),測試完成(chéng)後自動顯(xiǎn)示測試結果(如圖5—8)。測試結果自動保存,可點擊“打印”按鈕打印本次測試結果。
注 意:每一種測試的具體參數設置和接(jiē)線方法請查看第(dì)六章“參考(kǎo)接線”
。
5.4、CVT變比測試
首先根據相應的接線(xiàn)提(tí)示接好儀器外部的連線,
進入CVT測試菜單在參數設(shè)置中選擇“CVT變(biàn)比測試”,然後返(fǎn)回開始測試界麵(如圖5—9),長按“啟動測試”開始(shǐ)測量(如圖5—10),測(cè)試完成後自動(dòng)顯示測試結果(如圖5—11)。測試結果自動保存,可點擊“打印”按鈕打印本次(cì)測試結果。
5.5、正反同測
首先根據相應的接線提示接好儀器外部的連線, 進入正反同測菜(cài)單,在參數設(shè)置中選擇(zé)設置需要測試的高壓電壓,然後保存返回(如圖5—12),長(zhǎng)按“啟(qǐ)動(dòng)測(cè)試”開始測(cè)量,測試完成後自動顯示測試結果(如圖5—13)。測(cè)試結果自動保存,可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結果。
5.6、LCR測試
首先根據相應的接(jiē)線提示接好儀器(qì)外部與被試(shì)品之間的連線,按照【正接法(常規接線)】或者【反接法(fǎ)(常(cháng)規接線)】然後點擊主界麵“LCR測試”選項,進(jìn)入下上(shàng)等LCR測試菜單。
然後可以點擊“參數設置”進去(qù)設置菜(cài)單進行詳(xiáng)細的測試參數設置。分別點擊每個需要設置的項目,按“增(zēng)加”“減小(xiǎo)”或“選(xuǎn)擇”來修改。修改(gǎi)完成後點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數並返回一般測試(shì)界(jiè)麵,點擊(jī)“取消”則(zé)不保存本次修改並返回一般測試界麵。長按(àn)“啟動測試”開始測量,測試完成(chéng)後自動顯示測試結果(如圖5—14)。測試結(jié)果自動保存,可點擊“打印(yìn)”按鈕打印本次測(cè)試結果。
5.7、絕緣測試
首先根據相應的接(jiē)線提示接好儀器外部與被試品之(zhī)間的連線,然後點擊主界麵“絕緣測(cè)試”選項,進入下上等絕緣測試菜單。然後可選擇測試方式為正接法或反接法,選擇合(hé)適的測試電壓。設(shè)置好相關參數之後即可點擊下方“極化指數”“吸收比”“絕緣電阻”進行測試。
5.8、數(shù)據查詢
在主菜(cài)單點(diǎn)擊“數據管理(lǐ)”進入數據管理界麵(如圖5—16),點擊“數據(jù)查詢”進(jìn)入。進(jìn)入數據存放菜(cài)單(如圖5—17)後,按上、下鍵(jiàn)移動(dòng)光標至想要(yào)查看的數(shù)據(jù)項目上,(儀器所保存的數據均是按照測量時間(jiān)的先後所排列的,第(dì)000個數據即*新數據,第199個數據即*老(lǎo)數據。)再點擊(jī)相應的數據,進入數據打印項目,在此菜單裏麵可以(yǐ)按上,下(xià)鍵翻頁至相應的數據序號上,可對數據進行打印操作。
5.9、參(cān)數設置
打開(kāi)儀器(qì)後直接點擊“參數設置”進入時間設置(zhì)界麵。進(jìn)入時間(jiān)菜單(如圖5—18)後,點擊想要修改的(de)時間數據項(xiàng)目上,然後再按增加、減小鍵調整相應的“時” 、“分(fèn)” 、“秒” ,*後點擊保存(cún)修改(gǎi)時間設置,點擊取消退出設(shè)置並返回主界麵。
※ 注:
所有圖片並非實物的全部描敘,請以實際儀器界麵為主(zhǔ),僅做參考。
所有步驟在(zài)設置不當或想(xiǎng)再次改變的情況下,均可按取消鍵返回(huí)上一步驟,如果按(àn)取消鍵不能實現返(fǎn)回。則(zé)可以直接按(àn)複位鍵(jiàn)退到主菜單重新開始設置。
六 參考接線
(具體請參閱相關規(guī)程(chéng))
1、正接法
1、內電壓—內標準—正接法(電容常規接線)
2、內電壓—正接法(絕緣電阻接線)
3、內電壓—外標準—正接法(必須(xū)先設置好外接標準容量)
4、外電壓—內(nèi)標準—正接法
5、外電(diàn)壓(yā)—外標準(zhǔn)—正接法(必須先設置(zhì)好外標準容(róng)量)
2、反接法
1、內電壓—內標準—反(fǎn)接法(常規(guī)接線)
2、內電壓(yā)—外標準(zhǔn)—反接法(必須先設(shè)置好外標(biāo)準容量)
3、外電壓—內標準—反接(jiē)法
4、外電壓—外標準—反接法(必須先(xiān)設置好外標準容量)
3、CVT測試(注意:CVT測試時高壓線(xiàn)應懸(xuán)空不能接觸地麵,否則其對地附加介損會引起誤差。)
1、CVT同(tóng)時測試
(一次完成(chéng)測試)
2、CVT分別測試
(普通測試)
3、不拆(chāi)高壓引(yǐn)線(xiàn)測(cè)試CVT電容值和介損測量模式:CVT自激(jī)法。電壓(yā)≤ 2kV
4、反接屏蔽法測量CVT上端C0的電(diàn)容值和介損測量(liàng)模式:反接法。電壓≤2kV
4、CVT變比測試
5、正(zhèng)反同測
三繞組變壓器(qì)CHG+CHL(高壓線屏蔽接T繞組)
三繞組變壓器CLG+CLT(高壓線屏蔽接(jiē)HV繞組)
三繞組變(biàn)壓器CTG+CHT(高壓線屏蔽接LV繞組)
6、電壓互感器
(1):一次側對二次側
A、接線見圖6-1
B、電壓為2KV
C、正接法
(2):一次(cì)側對二次側及地
A、接線見圖6-2
B、電壓為(wéi)2KV
C、反接(jiē)法
(3):二次側對一側次及地
A、接線見圖(tú)6-3
B、電壓為2KV
C、反接(jiē)法
(4):末(mò)端(duān)屏蔽法
A、接線見圖6-4
B、電壓為10KV
正接法
7、電流互感器
(1):一次側對二次側
A、接線見圖6-5
B、電壓為10KV
C、正接(jiē)法
(2):一次側對末屏 (常用)
A、接線參(cān)考圖6-6
B、電壓為10KV
C、反接法
(3):一次側對二次側及地
A、接線見圖 6-7
B、電壓為10KV
C、反接法
8、高壓穿牆套管
(1):芯棒對末屏 (常用)
A、解開(kāi)末屏接地
B、接線見(jiàn)圖6-8
C、電壓為10KV
D、正接法
(2):芯棒對末屏及地
A、接(jiē)線見圖6-9
B、電壓為10KV
反接(jiē)法
9、電力變壓器
(1):一次繞組(zǔ)對二次繞組
A、接線見圖6-10
B、電壓為10KV
C、正接法
(2):一(yī)次繞組對二次繞組及(jí)地
A、接線見圖(tú)6-11
B、電壓為10KV
C、反接法
(3):二次(cì)繞組對一(yī)次繞組及地
A、接線見圖6-12
B、電壓為10KV
C、反接法
10、絕緣油介損
1.此時杯體為高壓(yā),注意**;
2.正接(jiē)法
3.HV用紅色高壓線
4.Cx用黑色測試線,屏蔽層接油杯地
5.電壓2kV
6.(C高壓)接HV
7.(A測試)接Cx
8 .(B屏蔽)接地(dì)
11、標準電容器,標準介損器
·正接法
1.HV用紅色高壓線(xiàn)連(lián)試品高壓
2.Cx用黑色測試線(xiàn)連試品低壓
3.黑色測試線的屏蔽層連試品E
·反接法
1.試品(pǐn)高壓接(jiē)地
2.
HV用紅(hóng)色高壓線連試品低壓
3.紅色高壓線的屏蔽層連(lián)試(shì)品E
4.Cx懸(xuán)空
5.桶體已為高壓注意絕緣
注(zhù) 意:
· 所有連線虛線為電纜屏蔽層,實線為電(diàn)纜芯線。
· 請使用出廠時配套的(de)測試電纜。儀器測量電纜通用,但本儀(yí)器屬於高精密測量儀器,測量時請盡(jìn)量使用儀器出廠時附帶的測試電纜,否則的話(huà)可能因電纜自(zì)身的屬(shǔ)性差異而影響測量結果(guǒ)的精度。
· 具體每個接(jiē)線插座和端(duān)子使用何種電纜連接請參考
“麵板說(shuō)明(míng)”。
七 使用注意事(shì)項
本儀(yí)器隻能在停電設備上(shàng)使用(yòng),其它設備可不斷電;
儀器自(zì)帶有升壓(yā)裝置,應(yīng)注意(yì)高壓引線的絕緣(yuán)及(jí)人員**;
儀器必須可靠接地;
使用本儀器檢測設備前,應先對設備進(jìn)行絕緣檢測;
確定設(shè)備的耐壓等(děng)級,正確選擇儀器升壓檔位,以防擊穿設備,損壞儀器(qì);
儀器所配(pèi)專用(yòng)高壓電纜出廠時(shí)已檢測合格,但測量時仍需遠離人體;
輸入電壓為AC220V±10%,超出範圍(wéi)都有可能影(yǐng)響測試精度;*大輸入電(diàn)壓為AC264V,超過此值會(huì)造成長久性損壞(huài),對(duì)此廠家不予保修;
打(dǎ)印機有可能在搬運過程中因卷紙鬆動而出現(xiàn)打印卡(kǎ)紙,此時隻需將卷紙取出,繞緊後重新(xīn)裝入;
儀器應注(zhù)意防潮,防劇烈震動;
發電機供電時應將輸出零(líng)線接地,否則會提示接地(dì)有誤。
附錄(lù)A:隨機配件
序號
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名 稱
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數量
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1
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儀(yí)器主機
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1台
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2
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附件箱
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1個
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3
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紅色高壓測試線
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1根
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4
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黑色低壓測(cè)試線
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1根
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5
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CVT自激電源線
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1根
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6
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AC220V電(diàn)源線
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1根
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7
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接地線
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2根
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8
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使用說明書
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1份
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9
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出廠合格證
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1份
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10
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保險管(guǎn)、打印紙
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備用
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注 意:具體隨機配件視出貨型號的差異可能有所不同。
附錄B:名稱解釋(shì)
功率(lǜ)因數=輸入有用功功率/輸入(rù)總功率(lǜ)(視(shì)在功率)
tgx: 被試品的介質損耗值
Cx : 被試品的電容容量
PF : 被試品的功率因素
Ιx : 被試品的(de)測試電流(liú)
Pr : 容性設備的有功功率
HV: 被試品的測試電壓
f : 被試品的測試頻率
Tanδ = tg (δ )
PF = cos (θ)
Pr =Ux * Ιx * cos (θ)
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