一 LYJS9000G雙變頻介質損耗分析儀概 述
LYJS9000G介損測試儀是發電廠、變電站等(děng)現(xiàn)場或實驗室(shì)測試各種高壓電力設備介損正(zhèng)切值及電容量的高精度測試儀器。儀器為一體化結構,內置介損測試電(diàn)橋(qiáo),可變頻調壓電源,升壓(yā)變壓器和SF6 高穩定度標準電(diàn)容器。測試高壓源由儀器內部(bù)的逆變器產(chǎn)生,經變壓器升壓後(hòu)用於被試品測試。頻率可變為(wéi)50Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz,采用數字陷波技術,避開了工(gōng)頻(pín)電場(chǎng)對測(cè)試的幹擾,從根本上解決了強電場幹擾下(xià)準確測量的(de)難題。同時(shí)適用於全(quán)部停電後用(yòng)發電機供電檢測的(de)場合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測試絕緣油(yóu)介質損耗。
儀器主要具有如下特點:
絕(jué)緣電(diàn)阻測試
儀(yí)器集成絕緣電阻測試模塊,可進行極化指(zhǐ)數、吸收比以及絕緣電阻的測試。
LCR全自動測量
全自動電感、電容、電阻測量,角度顯示。
多種測試模式
儀器能夠分別使用內高壓、外高壓、內標準、外標準(zhǔn)、正接法、反接法、自(zì)激法等多種方式測試;在外(wài)標準外高壓情況下可(kě)以做高(gāo)電壓(大於(yú)10kV)介質損(sǔn)耗。
CVT測試一步到位
該儀(yí)器還可以(yǐ)測(cè)試全密封的CVT(電(diàn)容式(shì)電壓互感器)C1、C2的介損(sǔn)和電容量,實現了C1、C2的同時測試。該儀器還可以測試CVT變比和(hé)電壓角(jiǎo)差。
不拆高壓引線測量(liàng)CVT
儀(yí)器可在不拆除CVT高壓(yā)引線的情況下正確測量CVT的介質損耗值和電容值。
CVT反接屏蔽法(fǎ)測量C0
儀器可采用反接屏蔽(bì)法測量CVT上端C0的介質損耗值和電容值。
多重保護**可靠(kào)
儀器具備輸入電壓波動、高壓電流、輸出短路、電源故障、過壓、過流、溫度等多重保護措施(shī),保證了儀器**、可靠。儀器還具備設置接地檢測功能,確(què)保不接地設備不允許升壓。
高速采(cǎi)樣信號
儀器內部的(de)逆變器和(hé)采樣電路全部由數(shù)字化控製(zhì),輸出電壓連續可調。
海(hǎi)量(liàng)存儲數據
儀器內(nèi)部配(pèi)備有日曆(lì)芯片和大容(róng)量存儲器,保存數據200組(zǔ),能將檢測結果按時間順(shùn)序保存,隨時可以查看曆史記錄,並可(kě)以打印輸(shū)出(chū)。
超大液晶中(zhōng)文顯(xiǎn)示
操(cāo)作簡(jiǎn)單,儀器配備了優異的全觸摸液晶顯示屏,超大(dà)全觸摸操作(zuò)界(jiè)麵,每過程都非常清(qīng)晰明了,操(cāo)作人員不需要額外的專業培訓就能使(shǐ)用。輕輕點(diǎn)擊一下就(jiù)能完成整個過程(chéng)的測量,是目前非常理想的智能型介損測量設備。
二 LYJS9000G雙變頻介(jiè)質(zhì)損耗分析儀(yí)工作原理
圖 2—1 測量原理圖
三 LYJS9000G雙變頻介質損耗分析儀主要技術參數(shù)
1
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使用條件(jiàn)
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-15℃∽40℃
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RH<80%
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2
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抗幹擾(rǎo)原理(lǐ)
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變頻法
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3
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電 源
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AC 220V±10%
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允許發(fā)電機
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4
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高壓輸出
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0.5KV∽10KV
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每隔(gé)0.1kV
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精(jīng)度:2%
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*大電流
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200mA
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容量
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2000VA
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45HZ/55HZ 47.5HZ/52.5HZ
55HZ/65HZ 57.5HZ/62.5HZ 自動(dòng)雙變頻
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5
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自激電源
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AC 0V∽50V/15A
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6
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分 辨 率
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tgδ: 0.001%
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Cx: 0.001pF
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7
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精 度
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△tgδ:±(讀數*1.0%+0.040%)
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△C x :±(讀數*1.0%+1.00PF)
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8
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測量範圍
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tgδ
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無限製
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C x
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15pF < Cx < 300nF
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10KV
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Cx < 60 nF
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1KV
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Cx < 300 nF
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CVT測試
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Cx < 300 nF
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9
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LCR測量範(fàn)圍
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L>20H(2kV)
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R>10KΩ(2kV)
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精(jīng)度:0.1%
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分辨率:0.01
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10
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CVT變比(bǐ)範圍
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10∽10000 精度0.1%
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分辨率:0.01
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11
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絕緣電阻
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直流高壓0.5-10KV 精度(dù):±(讀數(shù)×2%+10V)
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100kΩ-1000GΩ時(shí)低於5%(試驗電壓不低於250V)
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100GΩ-1000GΩ時為10%(試驗(yàn)電壓(yā)不低於10000V)
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12
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外(wài)型(xíng)尺(chǐ)寸(主機)
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350(L)×270(W)×270(H)
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外型尺寸(附件箱)
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350(L)×270(W)×160(H)
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13
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存儲器大小
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200 組 支持U盤數據存儲
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14
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重量(主機):22.75Kg
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重量(附件箱):5.25Kg
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四 LYJS9000G雙(shuāng)變頻介質損耗分析儀(yí)麵板說明
1.緊急停機按鈕及高(gāo)壓指(zhǐ)示燈
2.複位按鈕
3.U盤接口
4.總電源開關
5.AC220V電源輸入插座
6.Cn:標準電(diàn)容輸入插座
7.Cx:試品輸入插座
8.觸摸顯示(shì)屏(píng)
9.接地接線柱(zhù)
10.ES自激輸出(chū)
11.打印機
12.高壓輸出HV插座
4.1、緊(jǐn)急停機按鈕及高壓指示燈(dēng)
安裝位置:如圖4—1— eq \o\ac(○,1)1。
功 能:在儀(yí)器測試過程中(zhōng)有(yǒu)高壓輸出時,遇(yù)緊急情(qíng)況(kuàng)需要斷開高壓輸(shū)出,即可按下緊急停機(jī)按鈕立即從內部切斷高壓輸出;按鈕內置指示燈作(zuò)為高壓輸出指示燈。
4.2、複位按鈕
安裝位置:如圖4—1— eq \o\ac(○,2)2。
功 能:提(tí)供儀器複位功能。
4.3、U盤接口
安裝位置(zhì):如圖4—1—③。
功 能:可把儀器內部保存的測試數據導入並(bìng)保存到U盤(pán)中。
注(zhù) 意:數據傳輸過程當中嚴禁拔出U盤(pán),隻有當數據傳輸完畢(bì)後並且液晶屏上出現拔出U盤的(de)提示後,方可(kě)拔出U盤(pán),否則有可(kě)能(néng)燒毀U盤。
4.4、總電源開關
安裝位置:如圖4—1—④。
功 能:打(dǎ)開此(cǐ)關,儀(yí)器上電進入(rù)工作狀(zhuàng)態。關閉此開關,也同時關閉儀器內部所有電源係統,緊急情況應立即關(guān)閉此開關並拔掉輸入電源線。
4.5、電源輸(shū)入插(chā)座(zuò)
安裝位置:如圖4—1—⑤。
功 能:提供儀器工作(zuò)電源。(AC
220V±10%)
接線方法:使用標準插座與市電(diàn)或發電機相連接。
注 意:電源插座內部帶有保險管保護裝置,不正常情況下可燒毀保險管保(bǎo)使儀器斷電,保護儀器內部。
4.6、標準電(diàn)容器輸(shū)入Cn插座
安裝位置:如圖4—1—⑥。
功 能:外接標準測試信號。
接線方法(fǎ):外標準測試時電纜芯線(xiàn)接標準電容測試端,電纜屏蔽層(céng)接標準電容器屏蔽極。外標準測試時不管是正接法還(hái)是反接法(fǎ)測量,標準電容器接線方法不變。此方式用於外接高電壓等級標準電容(róng)器,實現高電壓(yā)介質損耗測量。
4.7、試品低壓輸入Cx插座
安裝位置:如圖4—1—⑦。
功(gōng) 能:正接法時輸入被試品測試信號。
接(jiē)線方法:插座中心連接黑色信號線芯線;金屬外殼接黑(hēi)色(sè)信號線屏蔽層;正接法時芯(xīn)線接被試品低壓信(xìn)號端,若被試品低壓信號端有屏蔽極(如低壓端的屏蔽環),則可將屏蔽層接於屏蔽極,無屏蔽極時屏蔽(bì)層懸(xuán)空。
注 意:
· 在啟(qǐ)動測試的過(guò)程中嚴禁拔下(xià)插頭,以防(fáng)被試(shì)品電(diàn)流經人(rén)體入地。
· 用標準介損器或標準電容器檢測正接法精度時,應使用全屏蔽插頭連接介損器或標準(zhǔn)電容(róng)器,否則暴露的芯(xīn)線可能受到幹擾引起誤差。
· 測試過(guò)程(chéng)中(zhōng)應保證插座中心測試(shì)芯線與被試品低壓端零電阻連接,否則可能引起測量結果的(de)數(shù)據波動。
· 強幹(gàn)擾下(xià)拆除接線時,應在保持電纜接地狀(zhuàng)態下斷開連接,以防感應電擊。
4.8、觸(chù)摸顯示屏(液(yè)晶屏應避免長時間(jiān)陽光暴曬,避免重物擠壓(yā)和利器劃傷)
安裝位置:如圖4—1— eq \o\ac(○,8)8。
功 能(néng):全觸摸大屏幕(120mm×90mm)中文顯示,每一步(bù)操(cāo)作清晰明了。
4.9、接地(dì)接線柱
安裝位置:如圖4—1—⑨。
功 能:儀器保護接地。
注 意:儀器內部自帶接地保護裝置,測試中應當保證可靠接入地網。否則儀器(qì)將自動產生保護不開始(shǐ)升壓測(cè)試(shì)。
4.10、ES自激輸出
安裝位置:如圖(tú)4—1—⑩。功 能:自激輸出,儀器內部為自激輸出變壓器的一端(變壓器另一端已接地),自激法測試CVT介損時連接到CVT的自激線圈(da)上,dn接地,為CVT提供(gòng)測量所需高壓電(diàn)源。
注 意:
因低壓輸(shū)出電流大,應采用儀器專用連接線連(lián)接到CVT二次繞組並使其接觸良好,選擇正、反接法測量時,此輸出關閉。
4.11、打印機
安裝位置:如圖4—1— eq \o\ac(○,11)11。
功 能:顯示可打印數據時,將光標移動至“打印”項按確認鍵打印。
注 意:打印(yìn)機為(wéi)全自動熱敏打(dǎ)印機,打印紙寬55mm。更換打(dǎ)印紙時請使用熱敏打印機專用打印紙,首先扳起打印機旁邊(biān)角,打開打印(yìn)機蓋板(bǎn),然後(hòu)按順序將打(dǎ)印紙放入(rù)打印紙(zhǐ)倉內並留少許部分在外麵,*後(hòu)合上(shàng)打印機蓋板。
4.12、高壓輸出HV插座
安裝位置:如圖(tú)4—2—⑫,外設保護門。
功 能: 儀器變頻高壓輸出;檢測反接線試(shì)品電流;內部標準電容器的高壓端。
接線方法:插座中心連接紅色高壓線芯線;金屬外殼(ké)連接紅色高壓(yā)線屏 蔽層;正(zhèng)接法時芯線和屏蔽層都(dōu)可以作加壓線對被試品高(gāo)壓端加(jiā)壓;反(fǎn)接(jiē)法時隻能用芯線對被(bèi)試品高壓端加壓(yā),若試品高壓端有屏(píng)蔽極(如高壓端的屏蔽環),則可將屏蔽層接於屏蔽極,無屏蔽極時屏蔽層懸空。
注 意:· 在啟動測試(shì)的(de)過程中此插座帶有高壓有觸電危險,優良禁止觸碰(pèng)高壓插座及與之相連的相關(guān)設備。
· 用標準(zhǔn)介損器或標準電容(róng)器檢測正接法精度時,應使用全屏蔽插(chā)頭連接介損器或標準電容器,否則暴露的芯線可(kě)能受到幹擾引起誤差。
測試過程中應保證(zhèng)插座中心紅色高壓線芯線與被試品高壓端零電阻(zǔ)連接(jiē),否則可能(néng)引(yǐn)起(qǐ)測量(liàng)結果的數據波動(dòng)。
五 LYJS9000G雙變頻介質損耗分析儀使用說(shuō)明(míng)
5.1、主菜單
打開電源開關,進入主菜(cài)單(如圖5—1);選擇界麵右邊相應的測試(shì)選項進行(háng)測量。
※ 注: 儀(yí)器啟動測(cè)試後,緊(jǐn)急情況若停止,隻能按緊急停機,不要按複位。
5.2、一般測試
首先根據(jù)相應的接線提示(shì)接好儀器外(wài)部與被試品之間的連線,然後點擊主界麵(miàn)“一般測試”選項,進入下上等一(yī)般測試(shì)菜(cài)單(如圖5—2)。然後可以點擊“參數(shù)設置”進去設置菜單(如圖5—3)進行詳細的測試參數設置。
分別點擊每個需要設置的項目,按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成(chéng)後點擊“保存(cún)”即可保存剛才所修改的參數(shù)並返回一般測試界麵,點擊“取消”則不保存本次修改並返回(huí)一般測試界麵(miàn)。
相(xiàng)關參數設置(zhì)好了後長按“啟動測試”單,進入測試菜單(dān)。測試過程中電壓值一項是根據先前所選擇的測試電壓平滑上(shàng)升至設(shè)置值後保(bǎo)持不變,然後自動開始測(cè)試。開始測試後根據先前所選(xuǎn)擇的測試頻率自動變頻到各相應的頻率(lǜ)進行測試(shì),測試完成後自動(dòng)顯示(shì)測(cè)試結(jié)果(如圖5—4);測試(shì)結(jié)果自動保存,可點擊“打印”按鈕打印(yìn)本次測試結果。
注 意:每一種(zhǒng)測試的具體參數設置和接線方法請查看(kàn)第六章“參(cān)考接線”
。
5.3、CVT測試
首先根據相應的接線提(tí)示(shì)接好儀器(qì)外(wài)部的連線(xiàn),然(rán)後點擊主(zhǔ)界麵“CVT測試”選(xuǎn)項,進入下上等CVT測試菜單(如圖5—5)。然後(hòu)可以點擊“參數設置”進去設置菜單(如圖5—6)進行詳細的測試參數設(shè)置。分別點擊每個(gè)需要設置的項目,按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修(xiū)改完成後點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數並(bìng)返回CVT測試界麵,點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改並返回CVT測試界麵。
相關參數設置好了後長按“啟動測試”單,進入測試(shì)菜(cài)單(如圖5—7)。測試(shì)過程中(zhōng)電壓值一項是根據先前所選擇的測試電壓平滑至設置值後保持不變,然後自動開始測試。開(kāi)始測試後根據先(xiān)前(qián)所選擇的(de)幹(gàn)擾頻率自動變頻到相應的頻率進行測試,測試完成後自動顯示(shì)測試結果(如圖5—8)。測試結果自動(dòng)保存(cún),可點擊“打印”按鈕打印本次測試結果。
注 意:每一種測試的(de)具體(tǐ)參數設置和接線(xiàn)方法請查看第六章“參考接線”
。
5.4、CVT變比測試(shì)
首先根據相應的接線提示接好儀器外部的連(lián)線(xiàn),
進入(rù)CVT測試菜單在參數設置中選擇“CVT變(biàn)比測試”,然後返回開始測試界麵(如圖5—9),長按“啟動測試”開始測量(如圖5—10),測試完成(chéng)後(hòu)自動顯示測試結果(如(rú)圖5—11)。測(cè)試結果自動(dòng)保存,可點擊“打印”按鈕打印本次(cì)測試結果。
5.5、正反(fǎn)同測(cè)
首先根據相應的接線提示接好儀器外部的(de)連(lián)線, 進入正反同測菜單,在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測試的高(gāo)壓電壓,然(rán)後保存返回(如圖(tú)5—12),長按“啟(qǐ)動測試”開始測量,測(cè)試完成後(hòu)自動顯示測試結果(如圖5—13)。測試結果自動保(bǎo)存,可點擊“打印”按鈕打印本次測試結果。
5.6、LCR測試
首先根(gēn)據相應的接線(xiàn)提示接好儀器外部與被試品之間的連線,按照【正接法(常規(guī)接線)】或(huò)者【反接法(常規接線)】然後點(diǎn)擊主界麵“LCR測試”選(xuǎn)項,進入下上等LCR測試菜(cài)單。
然後可以點擊“參數設置”進去設置菜單進行詳細的測試參數設置。分別點擊每個(gè)需要設置的(de)項目,按“增加”“減小”或“選(xuǎn)擇(zé)”來修改。修改完成後點(diǎn)擊“保存(cún)”即可保存剛才所修改的參數並返回一般測試(shì)界(jiè)麵,點擊(jī)“取消”則不(bú)保存本次修改並返回(huí)一般測試界麵。長按“啟動測試”開始測量,測試完成後自動顯示測試結果(如圖5—14)。測試結(jié)果自動保存,可點擊“打印”按鈕打(dǎ)印本次測試結果。
5.7、絕緣測試
首先根據相應的接線(xiàn)提示接好儀器外部(bù)與被試品之間的連線,然後點擊主界麵“絕緣測試”選項,進入下上等絕緣測試菜單。然後可選擇測試方式為正接法或反(fǎn)接法,選擇(zé)合適的(de)測試電壓。設置好相(xiàng)關參數之後即可點擊下方“極化指數”“吸收比”“絕(jué)緣電阻”進行測試。
5.8、數據(jù)查(chá)詢
在主菜(cài)單點擊“數(shù)據管理”進入(rù)數據管(guǎn)理界麵(如圖(tú)5—16),點擊“數據查(chá)詢”進(jìn)入。進入數據存放菜單(如圖5—17)後,按(àn)上、下(xià)鍵移動光標至想要查看的數據項目上,(儀器所保(bǎo)存的數據(jù)均是按照測量時間的先後所(suǒ)排列的(de),第000個數據即*新(xīn)數據,第199個數據即*老數據。)再點擊相應的數據,進入數據打(dǎ)印項目,在此菜單裏麵可以按上,下鍵翻頁至相(xiàng)應的數據序號上,可對數(shù)據進行打(dǎ)印操作(zuò)。
5.9、參數設(shè)置
打開(kāi)儀器後直(zhí)接點(diǎn)擊“參數設置”進入時(shí)間設置界麵。進入時間菜單(如(rú)圖5—18)後,點擊想要修改的時間數據(jù)項目上,然後再(zài)按(àn)增加、減小鍵調整相應的“時” 、“分” 、“秒(miǎo)” ,*後點擊保存修改時間設(shè)置,點擊取消退出設置(zhì)並返回主界麵。
※ 注:
所有圖片並非實(shí)物的全部描敘,請以實(shí)際儀器界麵(miàn)為主,僅做參考。
所有(yǒu)步驟在設(shè)置不當(dāng)或(huò)想再次改變(biàn)的(de)情況下,均可(kě)按取(qǔ)消鍵返回上一步驟,如(rú)果按(àn)取(qǔ)消鍵不能實現(xiàn)返回。則可以直接按複位鍵退到主菜單重新開(kāi)始設置。
六 參考接線
(具(jù)體請(qǐng)參閱相關規程)
1、正接法
1、內電壓—內標準—正接法(電容常規接線)
2、內電壓—正接法(絕緣電阻接(jiē)線)
3、內電壓—外標準—正接法(fǎ)(必須先(xiān)設置好外接標(biāo)準(zhǔn)容量(liàng))
4、外電壓—內標準—正接法
5、外電壓—外標準—正接法(必須先設置好外(wài)標準容量)
2、反(fǎn)接法(fǎ)
1、內(nèi)電壓—內標準—反接法(常規接線)
2、內電壓—外標(biāo)準—反接法(必須先(xiān)設置(zhì)好外標準容量)
3、外電壓(yā)—內標(biāo)準—反接法(fǎ)
4、外電壓—外標準—反接法(必須先設置(zhì)好外標準容量)
3、CVT測試(注意:CVT測試時高壓線應(yīng)懸空(kōng)不能(néng)接觸地(dì)麵,否(fǒu)則其對地附加介損會引起誤差。)
1、CVT同時測試
(一次完成測試(shì))
2、CVT分別測試
(普通(tōng)測(cè)試)
3、不拆高壓引(yǐn)線測試CVT電容值和介損測量模式:CVT自激法(fǎ)。電壓≤ 2kV
4、反接(jiē)屏蔽法測量(liàng)CVT上端C0的電容值和介損測量模式:反接法。電壓≤2kV
4、CVT變比測試
5、正(zhèng)反同測
三繞組變壓(yā)器CHG+CHL(高壓(yā)線屏蔽接T繞組)
三(sān)繞組變(biàn)壓器(qì)CLG+CLT(高壓線屏(píng)蔽接HV繞組)
三繞組變壓器CTG+CHT(高(gāo)壓線屏蔽接LV繞組)
6、電壓互感(gǎn)器
(1):一次側對二次側
A、接線見圖(tú)6-1
B、電壓為2KV
C、正接法
(2):一次側對二次側及地
A、接線見圖6-2
B、電壓(yā)為2KV
C、反接法
(3):二(èr)次側對一側次及地
A、接線見圖6-3
B、電壓為2KV
C、反接法
(4):末端屏蔽法
A、接線見圖6-4
B、電壓為10KV
正接法
7、電流互感器
(1):一次側對二次(cì)側
A、接線見圖6-5
B、電壓為10KV
C、正接法(fǎ)
(2):一次側(cè)對末屏(píng) (常用)
A、接線參考圖6-6
B、電壓為10KV
C、反接法
(3):一次側對二次側及地
A、接線見圖 6-7
B、電壓為10KV
C、反(fǎn)接法
8、高壓穿牆套管
(1):芯(xīn)棒對末屏 (常用)
A、解開末屏接地
B、接線見圖6-8
C、電壓為10KV
D、正接法
(2):芯棒對末屏及地
A、接線見圖6-9
B、電壓為10KV
反(fǎn)接(jiē)法
9、電力變壓器
(1):一次繞組對二次繞組
A、接線見(jiàn)圖(tú)6-10
B、電壓為10KV
C、正接(jiē)法
(2):一次繞組對二次繞組及地(dì)
A、接線見圖6-11
B、電(diàn)壓為10KV
C、反接法
(3):二(èr)次繞組對一次繞組及地
A、接線(xiàn)見圖6-12
B、電壓為10KV
C、反接法
10、絕緣油介損
1.此時杯(bēi)體為高壓,注意**;
2.正接法
3.HV用紅色高(gāo)壓線
4.Cx用黑色(sè)測試線,屏蔽層接油杯地
5.電壓2kV
6.(C高壓)接HV
7.(A測(cè)試)接Cx
8 .(B屏蔽)接地
11、標準電容器,標(biāo)準介損器
·正接法
1.HV用紅色高壓線連試品高壓
2.Cx用黑色測試線連試品低壓
3.黑色測試線的屏蔽層連(lián)試品E
·反接法(fǎ)
1.試(shì)品高壓接地
2.
HV用紅色高壓(yā)線連試品低壓
3.紅色高壓線的屏蔽(bì)層連試品E
4.Cx懸空
5.桶體已為高(gāo)壓注意(yì)絕(jué)緣
注 意:
· 所有連線虛線為電纜屏蔽層,實線為電纜(lǎn)芯線。
· 請使用出廠時配套的測試電纜。儀器測量電纜通用,但本(běn)儀器屬於高精密測量(liàng)儀器,測量時請盡(jìn)量使用儀器出廠時附帶的測試電纜,否則的話可能(néng)因電纜自身的屬性差異而影響測量結果的精度。
· 具體(tǐ)每個接線插座和端子使用何種(zhǒng)電纜連接請參(cān)考
“麵板說明”。
七 使用注意事項
本(běn)儀器隻能在停電設備上使用,其它設備可不斷電(diàn);
儀器自帶有升壓(yā)裝置,應注意高壓引線(xiàn)的絕緣及人員**;
儀器必須可靠接地(dì);
使用本儀器檢測設備前,應先對設備進行(háng)絕緣檢測;
確定設備的耐壓等級,正確選擇儀器升壓檔位(wèi),以防擊(jī)穿設備,損壞儀器;
儀(yí)器所配專(zhuān)用(yòng)高壓電纜出(chū)廠時已檢測合格,但測量時仍需(xū)遠離人體;
輸入(rù)電壓為AC220V±10%,超出範圍都有可能影響測試精度(dù);*大輸入電壓為AC264V,超過此值會造成長久性損壞,對此廠家不予保修;
打印機有可能在搬運過程中因卷紙鬆動而出現打印卡紙,此時隻需將卷紙取出,繞緊後(hòu)重新裝入;
儀器應注意防(fáng)潮,防劇(jù)烈震動;
發電機供電時應將(jiāng)輸出零線接地,否則(zé)會提示(shì)接地(dì)有誤。
附錄A:隨機配件
序號(hào)
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名 稱
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數量
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1
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儀器主機(jī)
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1台
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2
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附件箱
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1個
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3
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紅色高壓測試線
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1根
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4
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黑色低壓測試線
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1根
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5
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CVT自激電源線
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1根
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6
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AC220V電源線
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1根
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7
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接地線
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2根
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8
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使用(yòng)說明書
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1份
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9
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出廠合格證
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1份
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10
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保險(xiǎn)管、打印紙
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備(bèi)用
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注 意:具體(tǐ)隨機配件視出貨(huò)型號的差異可能(néng)有(yǒu)所不同。
附錄B:名稱解釋
功率因數(shù)=輸入有用功功率/輸入總功(gōng)率(視在功(gōng)率)
tgx: 被試(shì)品的介質損耗(hào)值
Cx : 被試品的電容容量
PF : 被試品的功率因素
Ιx : 被試(shì)品的測試電流
Pr : 容性設備的有功功率
HV: 被試品的測試電壓
f : 被試品的測試(shì)頻率
Tanδ = tg (δ )
PF = cos (θ)
Pr =Ux * Ιx * cos (θ)
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