一、LYTCD-9308智能局放儀（yí）定（dìng）義及產（chǎn）生原因

在電場作用下，絕緣係統中隻有部分區（qū）域發生放電，但尚未擊穿，（即在施（shī）加電壓的（de）導體之間沒有擊（jī）穿）。這種現象稱之為局部放電。局（jú）部放電可能發生在導體邊上，也可能發（fā）生在絕緣體的表麵上（shàng）和內部，發生在表麵的稱為表麵局部放電。發生在內部的稱為內部局部放（fàng）電。而對於被氣體包圍的導體附近發生的局（jú）部放電，稱之為電暈。由此 總（zǒng）結一下局部放電的定義，指部分的橋接導體間絕緣的一種電氣放電，局部放電產生原因主要有以（yǐ）下幾種：

電場不均勻。

電（diàn）介質不均勻。

製造過程的氣泡（pào）或雜質。*經常（cháng）發生放電的原因是絕緣體內部或表麵存在氣泡；其次是有些設備的運行過程中會發生熱脹冷縮,不同材料特別是導體與介質的膨（péng）脹係數不同，也會逐漸出現裂縫；再有一些是在運（yùn）行過程中有機高分子（zǐ）的老化，分解（jiě）出各種揮發物，在高（gāo）場（chǎng）強的作用下，電荷（hé）不斷地由導體進入介（jiè）質中， 在注入點上就會使介質氣化。

二 、LYTCD-9308智能局放（fàng）儀模擬電路及放電（diàn）過程簡介

介質（zhì）內部含有氣泡，在交流電壓下產生的（de）內部放電特（tè）性可由圖1—1的模擬電路(a b c等值電路)予以表（biǎo）示；其（qí）中Cc是模（mó）擬介質中產生放電間（jiān）隙(如氣泡（pào）)的電容；Cb代表與Cc串聯部分介質的合成電容；Ca表示其餘部（bù）分介質的（de）電容。

(a)  實際介質                            (b)  模擬電路

I——介質有缺（quē）陷(氣泡)的（de）部份(虛（xū）線表示)           II——介質（zhì）無缺陷部份

圖1—1  表（biǎo）示具有內部放電（diàn）的模擬電路

圖1—1中以並聯有—對火花間隙的電容Cc來模擬產生局部放電的內部氣泡。圖（tú）1—2表示了在（zài）交流（liú）電壓下局部放電的發生過程。

圖1-2  介質內單個氣泡（pào）在交流電壓下的局部放電過程

U(t)一一（yī）外施交流電壓

Uc(t)一一氣泡不擊穿時（shí）在氣泡上的電壓

Uc’(t)一一有局部放（fàng）電時（shí）氣泡上的實際電壓

Vc一（yī）一氣泡的擊穿電壓

Y r一（yī）一氣泡的殘餘電壓  

Us—局部放電（diàn）起始電壓(瞬時值)

Ur一一與氣泡殘（cán）餘電壓v r對應（yīng）的外施電壓

Ir一一氣泡中的放電電流

電極間總電容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電極間施加交流電壓 u(t)時，氣泡電容（róng）Cc上（shàng）對應的電（diàn）壓為Uc(t)。如（rú）圖2—1所示，此時的Uc(t)所代表的是氣泡（pào）理想狀態下的電壓（yā）（既氣泡不發生擊穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外（wài）施電壓U(t)上升時，氣泡上電（diàn）壓Uc(t)也上升，當U(t)上升到Us時，氣泡上電壓（yā）Uc達到氣泡擊穿電壓,氣泡擊穿，產生大量的正、負離子，在電場（chǎng）作用下（xià）各自遷移到氣泡上下壁，形成空間電菏，建（jiàn）立反電場，削弱（ruò）了氣泡內的總電場強度，使放電（diàn）熄滅，氣泡又（yòu）恢複絕緣性能。這樣的一次放電持續時間是極短暫的，對（duì）一般的空（kōng）氣氣泡來說，大約隻有幾個毫（háo）微秒(10的負8次方到10的負9次方秒)。所以電壓Uc(t)幾乎（hū）瞬（shùn）間地從Vc降到Vr，Vr是（shì）殘（cán）餘電壓；而氣泡上電壓Uc‘(t)將隨U(t)的增大而繼續由（yóu）Vr升高到（dào）Vc時，氣泡再—次擊穿，發生又—次局部放（fàng）電，但此時相應的外施電壓比Us小，為(Us-Ur)，這是因為氣泡上有殘餘電壓Vr的內電場作用的結果。Vr是與氣泡殘餘電壓Yr相應的外施電壓，如此（cǐ）反複上述過程，即（jí）外施電壓每增加（jiā）(Us-Ur)，就產生一次局部放電．直到（dào）前（qián）—次放電（diàn）熄滅後，Uc’(t)上升（shēng）到峰值時共增量不足以達Vc(相當於（yú）外施電壓的增量Δ比(Us-Ur)小（xiǎo）)為止。

此（cǐ）後，隨著外施電壓U(t)經過峰值Um後減小，外施電壓（yā）在氣泡中建立反方（fāng）向電場（chǎng），由於氣泡中殘存的內電場（chǎng）電壓方向與外電場方向相反，故外施電壓須經(Us+Ur))的（de）電壓變化，才能（néng）使（shǐ）氣泡上的電壓達到擊穿電（diàn）壓Vc，(假定正、負方（fāng）向擊穿電壓Vc相等（děng）)，產生一次局部放電。放電很快熄滅，氣泡中電（diàn）壓瞬時降到殘餘電壓Vr(也假（jiǎ）定正、負方向相同)。外施（shī）電壓（yā）繼續下降，當再下降(Us-Ur)時，氣泡電壓就又達到Vc從而又（yòu）產生一次局部放電（diàn）。如（rú）此重複上（shàng）述過程，直到外施（shī）電壓升到反向蜂值一Um的增量Δ不（bú）足以達到(Us-Ur)為止。外施電壓經過一Um峰值後，氣泡上的外電場方向又變為正方向，與氣（qì）泡殘餘電壓方向相反，故外施電壓又須上升(Us+Ur)產生第—次放電，熄滅後，每經過（guò）Us—Ur的電壓上升就產生一次放電（diàn），重複前麵所（suǒ）介紹的過程。如圖1—2所（suǒ）示。

由以上局部放電（diàn）過程分（fèn）析（xī），同時根據局（jú）部放電的特點（同種試品，同樣的（de）環境下，電（diàn）壓越高局部放電量越大）可以知道（dào）：一般情（qíng）況下，同一試品在（zài）一、三象限的局部（bù）放電量大於二、四象限的局部放電量。那是因為它們是電（diàn）壓的上升沿。（第三（sān）象限是（shì）電壓負的上升沿）。這就是（shì）我們測量中為什麽把時間窗刻意擺在一、三象（xiàng）限的原因。

三、LYTCD-9308智能局（jú）放儀測量原理：

局放儀運用的（de）原理是脈衝電流法原理（lǐ），即產生一次局部放電時，試品Cx兩端產生一個瞬時電壓變化Δu，此時若經過電（diàn）Ck耦合到一檢測阻（zǔ）抗Zd上，回路就會（huì）產生一脈衝電（diàn）流I，將脈衝電流經檢測（cè）阻抗產生的脈衝電壓信（xìn）息，予以檢測、放大和顯示（shì）等（děng）處理，就可以測定（dìng）局部放電的（de）一些基本參量（liàng）（主要是放電量q）。在這裏需（xū）要（yào）指出（chū）的是，試品內（nèi）部實際的局（jú）部放電量是無法測量的，因為試品內部的（de）局部放電脈衝的傳輸路徑和（hé）方向是極其（qí）複雜的，因此（cǐ）我們隻有通過對比法來檢測試品的（de）視在放電電荷，即在測試之前先在試品兩（liǎng）端注入（rù）一定的電量，調節放大倍數來（lái）建（jiàn）立標尺，然後將在實（shí）際（jì）電壓（yā）下收到的試品內部的（de）局部放電脈衝和標尺進行對比，以此來得到試品的視在放電（diàn）電荷。

四（sì）、LYTCD-9308智能局放儀表征參數

局（jú）部放電是比（bǐ）較（jiào）複雜的物理現象，必須通過多種表征參（cān）數才（cái）能全方麵的描繪其狀態，同時局部放電對絕（jué）緣破壞的機理也是很複（fù）雜（zá）的，也需要通過不同的參（cān）數來評定它對（duì）絕緣的損害，目前我們隻（zhī）關心兩個基本參數。

視在放電電荷——在絕緣體中發生（shēng）局部放電時，絕緣體上施加電壓的兩端出現的脈動電荷稱之為視在放電電荷，單位用皮庫（pc）表示，通常以穩定（dìng）出現的*大視在放電電荷作為該試品的放電量。

放電重複率——在測量時間內（nèi）每秒中出現的放電次（cì）數的平均值稱為放電重複率，單位為次/秒（miǎo），放電重複率越高，對絕緣的損害（hài）越（yuè）大。

局放測試的試驗係統接線（xiàn）。

在了（le）解了局部放電的基本理論之後，在本章（zhāng）我們的重點轉向實際操作，我們先介紹局部（bù）放電（diàn）測試中常（cháng）用的（de）三種（zhǒng）接法，隨後我們（men）再介紹整個係統的接線電路，*後我們再分別介紹幾種典型的試品（pǐn）的試驗（yàn）線路。

局部（bù）放（fàng）電測試電路的（de）三種基本接（jiē）法及優缺點（diǎn）。

標準試驗電路，又（yòu）稱並聯法（fǎ）。適合於必須接地的試品。

其缺點是高壓引線對地雜散電容並聯（lián）在 CX上，會降低測試靈（líng）敏（mǐn）度。

接法的串聯法，其要求試品低壓端對地浮置。

其優點是變（biàn）壓器入口電容、高壓線對地雜散（sàn）電容與耦合電容（róng）CK並聯，有利於（yú）提高試（shì）驗靈敏度（dù）。缺點是試樣損壞時會損壞輸入單元。

平衡法試驗電路：要求兩個試品相接近，至少電容量為同一數量級其優點是外幹擾強烈的（de）情況（kuàng）下，可取得較（jiào）好抑製幹擾的效果（guǒ），並可消除變壓（yā）器雜散電容的影響，而且可做大電容試驗。缺點是須要兩個相似的試品，且（qiě）當產生（shēng）放電時，需設法判別是哪個試（shì）品放電。

值得提（tí）出的（de）是：由於現場（chǎng）試驗條（tiáo）件的（de）限製（找到兩個相似的試（shì）品且要保證一個試品（pǐn）無放電不太容易），所以在現場平衡法比較難（nán）實（shí）現（xiàn），另外，由於采用串聯法時（shí），如（rú）果試（shì）品擊（jī）穿，將會對設備造成比較（jiào）大的損（sǔn）害，所以出於對設備（bèi）保護的（de）想法，在現場試驗時一般采（cǎi）用並聯法。

采用並聯法的整個係統（tǒng）的接線原理圖。

該係統采用脈衝電流法（fǎ）檢測高壓（yā）試品（pǐn）的局部（bù）放電量，由控製台控製調壓器和變壓器在試品的（de）高壓端產生測（cè）試局放所需的預加電壓和測試電壓，通過（guò）無局放藕合電容器和檢測阻抗將局部放電信號取出並送至局部放電檢測（cè）儀（yí）顯示並判斷和測量。係（xì）統中的高壓電阻為了防止在測（cè）試過程中試品擊穿而損壞其他設備，兩個電源濾波器是將電源的幹擾和整個（gè）測試係統分（fèn）開，降低整個測試係統的背景幹擾。

根據（jù）上述原理圖可以看出，局部放電測試的靈敏度和準確度和整個係統密切相關，要想順利和準確的進行（háng）局部放電測試，就（jiù）必須將整個係統考濾周到，包括（kuò）係（xì）統的參數選取（qǔ）和連接方式。另外，在現場（chǎng）試驗時，由於是驗證性試驗，高壓限流電阻可以省掉。

幾種典型試品的接線原（yuán）理圖。

（1）電流互感器的局放測試接（jiē）線原理圖

a電流互感器接線（xiàn）

（2）電壓互感器的（de）局放測試接線原理圖

A．工頻加壓方式接線原理圖

B．高（gāo）頻加壓方式接（jiē）線原理圖

為了防（fáng）止電壓互感（gǎn）器在工（gōng）頻電壓下產生大的勵磁電流（liú）而損壞，高（gāo）壓電壓互（hù）感器一般采取自（zì）激勵（lì）的加壓方式。在電壓互感器的低壓側加一倍頻電源，在電壓互感器的高壓端感應出高壓來進行局（jú）部放（fàng）電實驗。這就是通常所說的三倍（bèi）頻實驗。其接線原理圖如下：

(3)高壓電容器.絕緣子的局放測試接線原理（lǐ）圖

(4) 發電機的局放測試接線原理圖

（5）變壓器（qì）的局部放電（diàn）測試接線原（yuán）理圖

我們僅僅是在原理（lǐ）性的總結了幾種典型試品的接線原理圖，至於各種試（shì）品（pǐn）的加壓方式和加壓值的多少（shǎo），我們在做試驗（yàn）的時侯要嚴格遵（zūn）守每種試品（pǐn）的出廠（chǎng）檢驗標準或交接檢驗標準。

第三章 LYTCD-9308智能局放儀（yí）概述

是我公（gōng）司*新推向市場的新一代數字智能儀器，該儀器在原有產品JF-2002、JF-2006局放儀的基礎上采用（yòng）嵌入式ARM係統作為中央處理單元，控製12位分辨率的高速模數轉換芯片進行數據采集（jí），將采集到（dào）的數據存放在雙端口（kǒu）RAM中。實現從模（mó）擬到（dào）數字的跨（kuà）越。使用26萬色高分辨率TFT-LCD數（shù）字液晶顯示模組實時顯示（shì）放電脈衝（chōng）波形，配備VGA接口，可外接顯示器。與傳統的模擬式示波管顯示局部放電檢測儀相比有以下特點（diǎn）：

1.彩色顯示器，雙色顯示波形，更清晰直觀；

2.可（kě）鎖定波形，更方便仔（zǎi）細查看放電波形細節（jiē）；

3.自動測（cè）量並顯示試驗電源時基頻率，無需手動切換；

4.配備VGA接口，可（kě）外接大尺（chǐ）寸顯示器；

5.與示波管相比壽命更長。

6.具（jù）有波形鎖定、打印試驗報告功能

檢測（cè）靈敏度高（gāo），試樣電容覆蓋（gài）範圍大，適用試品範圍廣，輸入（rù）單元（yuán）（檢測阻抗）配備齊全，頻帶組合多（九種）。儀（yí）器經適當定標後能直讀放電（diàn）脈衝的放電量。

本儀器是電力（lì）部門、製造廠家和（hé）科研單位等（děng）廣泛使用的局部放電測試儀器。

第四（sì）章 主（zhǔ）要技術指（zhǐ）標：

1．可測（cè）試品的電容範圍： 6PF—250uF。

2．檢（jiǎn）測靈敏度（見（jiàn）表一）：                                 表一

3、放大器頻帶：

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。

（2）優異：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大器增益調節：

粗（cū）調六檔，檔間增益20±1dB；細（xì）調範圍≥20dB。每檔之間數據為10倍關係：如第三檔檢測數據為98，則**檔顯示數據為9.8，如在第（dì）三（sān）檔檢測數據超過120，則應調至**檔來檢測數據，所得數據應乘以10才為實際測量值。

5、時間窗：

（1）窗寬：可調範圍15°-175°；

（2）窗位置：每一窗可旋轉0°- 180°；

（3）兩個時間窗可分別開或（huò）同時開。

6、放電量表：

0-100偏差（chà）<±3％（以滿度計）。

7、橢圓時基：

（1）頻率：50HZ、或外部電源同步（bù）（任（rèn）意頻率）

（2）橢圓旋轉：以30°為一（yī）檔，可作（zuò）360°旋轉。

（3）顯示方式：橢圓—直線。

8、試驗電壓表：

精度：優於±3％（以滿度計）。

9、體積： 320×480×190（寬×深×高）mm3。

10、重量：約15Kg。

三、係統工作原（yuán）理：

本機的局部放電測試原理是高頻脈衝電流測量法（ERA法）。

試品Ca在試（shì）驗電壓下產（chǎn）生局部放電時，放電（diàn）脈衝信號經藕合電容（róng）Ca送入輸入單元，由輸（shū）入單元拾取到（dào）脈衝信號，經低（dī）噪聲前置放大器放大，濾波放（fàng）大器選擇所需頻帶及主放大器放大（dà）（達到所需幅值與產生零標誌脈衝）後，在示波屏的橢圓掃描（miáo）基線上產生可見的放電脈衝，同時也送（sòng）至脈衝峰值表顯示其峰值。

時間窗單（dān）元控製試驗電壓每一（yī）周期內脈衝峰值（zhí）的工作（zuò）時（shí）間，並在這段時間內將示波（bō）屏的相應顯（xiǎn）示區（qū）加亮，用它（tā）可以排除固定（dìng）相位的幹擾。

試（shì）驗（yàn）電壓表經電容分壓器產生試驗電壓過零標誌訊號，在示波屏上顯示零標脈衝（chōng），橢圓時基上兩個零標脈衝，通過時間（jiān）窗的寬窄調節可確定試驗電壓的相位，試驗電壓大小由數字電壓表指示。

整個係統的工作原理可參看方框圖（tú）（圖一）。

四、結構說明

為標準（zhǔn）機（jī）箱結構，儀器分前麵板及後麵板兩（liǎng）部分，各（gè）調節（jiē）元件（jiàn）的位置及位置和功能見下圖（tú）說明。

1、4：長（zhǎng）按（àn）改（gǎi）變門窗的位置

2、3：長（zhǎng）按改變門窗的寬度

5：時鍾設（shè）置按鈕

6：按9號鍵鎖定後再按此鍵，即可打印（yìn）試驗報告

7：分壓比設置按鈕

8：門開關，重複按可（kě）選擇左（zuǒ）右門

9：波形鎖定按鍵

10：橢圓旋轉按鈕

11：顯示方式按鈕

12：取消按鈕

A、B、C通道選擇旋鈕與後麵板（bǎn）A、B、C測量通道相對（duì）應

備注： 如需數據導出，步驟如下：

（1）在電腦上安（ān）裝好RS232通（tōng）用串口線驅動。（驅動盤裏有安（ān）裝介紹）及局放試（shì）驗報告編（biān）輯器軟件。

（2）將串口線和局放（fàng）儀後麵的數據接口連接好。  

（3）將需要保存的（de）波形鎖（suǒ）定然後點擊 局放試驗報告編輯器

（4）點擊Start鍵生成鎖定後（hòu）的數據，然後點（diǎn）擊測（cè）試報告如下圖所示：

（5）點擊測試報告後則會出現局放試驗報告編（biān）輯器可以根據需（xū）要填寫上麵的內容。

（6）填寫好（hǎo）表格後點擊生成報告數據會以Word文檔的形式（shì）出現，再將數（shù）據（jù）保存至（zhì）電腦，如下圖所示：

第五章  操（cāo）作說明

1、試驗（yàn）準備：將機器後麵板的三（sān）個開關都置於“關”的狀態

（1）檢（jiǎn）查試驗場（chǎng）地的接（jiē）地情況，將本儀（yí）器後部的接地螺栓用粗銅線（*好用編製銅帶）與試驗場地的接地妥（tuǒ）善相接，輸入單元的接地短路片也要妥善接地。

（2）根椐試品（pǐn）電容Ca，藕合電容Ck的大小，選取合適序號的（de）輸入單元（表一），表一中調諧電容量是指從輸入單元（yuán）初級繞組（zǔ）兩（liǎng）端（duān）看（kàn）到的電容（按Cx和Ck的串聯值粗略估算）。

輸入單（dān）元應盡量靠近被測試品，輸入單元插座經8米長電纜與後麵板上輸入插座相接。

（3）試品接入輸入單（dān）元（yuán）的方法主要有以下幾種：

圖中：Ca——試品（pǐn）    Ck——藕（ǒu）合（hé）電（diàn）容    Z——阻塞阻抗

R3、C3、R4、C4——橋式接（jiē）法中平衡調節阻抗。

（4）在高壓端接上電壓表電阻或電（diàn）容分（fèn）壓器，其輸（shū）出經測量（liàng）電（diàn）纜接到後麵板試驗電壓輸入插座30。

（5）在未加（jiā）試驗電壓的情況下（xià），將JF-2006校正脈衝發生器的輸出接試品（pǐn）兩端。

2、使用步驟

（1）開機準（zhǔn）備（bèi）：將時基顯示方式置於“橢圓”。

（2）放（fàng）電量的校正：按圖接好線後，在未加試驗（yàn）電壓之前

用LJF-2006校正脈衝發生器予以校正。

注意：方波測量盒應盡量（liàng）靠近試品的（de）高壓（yā）端。紅端子引線接高壓端。

然後調節放大器增益調節，使該注入脈衝高度適（shì）當（示波屏上高度2cm以下），使數字（zì）表（biǎo）讀數（shù）值與注入（rù）的已（yǐ）知（zhī）電量相符。調定後放大器細（xì）調旋鈕的位置不能再改變，需保持與校正時相同。

校正完成後必須去掉校正方波發生器與試驗回路（lù）的連接。

（3）測試操作：

接通高壓（yā）試驗（yàn）回路電源，零標開關至“通”位置，緩緩升高試驗電壓，橢圓上出現兩個零標脈衝。

旋（xuán）轉（zhuǎn）“橢圓旋轉（zhuǎn）”開關，使橢圓旋轉到（dào）預期的放電處於*有利於觀（guān）測的位置，連續升高電壓，注意**次出（chū）現的持續放電，當放電量超過規定的*低值時的（de）電壓即為局（jú）部放電起始電壓。

在規定的試驗電壓下，觀測（cè）到放電脈衝（chōng）信號後，調節放大器（qì）粗調開關（guān）（注意：細調（diào）旋（xuán）鈕的位置不能再變動），使顯示屏（píng）上放電脈衝高度在0.2~2cm之間（jiān）（數字電（diàn）壓表上的PC讀數有效數字不能超（chāo）過120.0），超過120至需要降低增益檔測量。

注意（yì）：

使用數字表顯示放電（diàn）量，其滿度值定為100超過該值即為過載，不能保證精度，超過該值需撥動增益粗調（diào）開關轉換（huàn）到低增益檔。

試驗（yàn）過程中常會發現有各種幹（gàn）擾，對於固定相位的幹擾，可用時間窗裝置來避（bì）開。合上開關（guān）用（yòng）一個或兩個時間窗（chuāng），並調節門寬位置（zhì）來改變橢圓（yuán）上加亮區域（黃色）的寬度和位置，使其避開幹擾脈衝之處，用時間（jiān）窗裝置可以分（fèn）別（bié）測（cè）量產生於兩個半波內（nèi）的放電量。

三倍頻感應法的試驗步驟：將高頻（pín）電源接入儀器後麵板（bǎn）的高頻電源插座，並將電（diàn）源開關置於“開”的位子，其他試驗方式同前試驗。

打印報告：完成試（shì）驗後，若需要記（jì）錄試（shì）驗數據，隻需要按鎖定按鍵，然後按打印按鈕就可以直接打印試驗數據報告。

第（dì）六章  抗幹擾措施和局部放電（diàn）圖譜簡介

對（duì）於局部放電實驗我們*怕的就是幹擾，下（xià）麵簡單介紹一下實驗中可能遇到的幹擾（rǎo）以及抗幹擾的方法（fǎ）：

測量（liàng）的幹擾分類

幹擾有來自電網的和來自空間的。按表現形式分又（yòu）分為固（gù）定的和移動（dòng）的。主要的幹擾源有以下一些：

①懸浮電位物體放電，通過對地雜散電（diàn）容耦合

②外部頂端電暈

③可控矽（guī）元件在（zài）鄰近（jìn）運行

④繼電器，接觸器，輝光管等物品

⑤接觸不（bú）佳

⑥無線（xiàn）電幹擾

⑦熒光燈幹擾

⑧電動機幹擾

⑨中高（gāo）頻（pín）工業設備

（二（èr））抗幹擾方（fāng）法

采用帶調壓器，隔離變壓器和濾（lǜ）波器的控製（zhì）電源

設置屏蔽室，可隻屏（píng）蔽試驗回路部分

可靠的單點接地（dì），將試驗回路係統（tǒng）設計成單點接地結（jié）構，接（jiē）地電阻要小，接地點要與（yǔ）一般試驗室的地網（wǎng）及電力（lì）網中線分開（kāi）。

采用高壓（yā）濾波器

用平衡法或橋式試驗電路

利用時間窗，使固定相位幹擾處於亮窗之外

采用（yòng）較窄頻帶，或用（yòng）頻帶躲開幹擾（rǎo）大（dà）的（de）頻率範圍

在高壓端加裝高壓屏蔽（bì）罩或（huò）半導體橡膠帽以防電暈幹擾

試（shì）驗電路遠離（lí）周圍物體，尤其是懸浮的金屬固（gù）體（tǐ）！

（三）初做實（shí）驗者對波形辨認還是有一（yī）定（dìng）困難的（de），下麵就簡單介紹一     放電類型和幹擾的初步辯認：

1． 典型的內部氣泡放電（diàn）的波形特點：(圖 5—01)

A．放電主要顯示在試（shì）驗電壓由零（líng）升到峰值的兩個橢圓象限內。

B．在起始電壓Ui時（shí），放電通常發生在峰值附近，試驗電壓超過Ui時，放電向零（líng）相位延伸。

C．兩（liǎng）個相反半（bàn）周上（shàng）放電次數和幅值大致相同（*大相差至3：1）。

D．放電波形可辯。

E．q與試驗電壓關係不大（dà），但放電重複率n隨試驗電壓上升而加大。

F．局部放（fàng）電起始電壓Ui和熄滅電（diàn）壓Ue基本（běn）相等。

G．放電量q與時間關係不大。

H．如果放電量隨試驗電壓上升而（ér）增大（dà），並且放電波形變得模糊不可分辨，則往（wǎng）往是（shì）介質內含有多（duō）種大小氣（qì）泡，或是介質表麵放電。如果除了上述情況，而且放電（diàn）幅（fú）值隨加壓時間而迅速增長（可達100倍或更多），則往往是絕緣液體中的氣泡放電，典型例子是油浸紙電（diàn）容（róng）器的放電。

(圖 5—01)

2． 金屬與介（jiè）質間氣泡的放電波形特點：              

正半周有許多幅（fú）值小（xiǎo）的放電，負半（bàn）周有很少幅（fú）值大的放（fàng）電。幅值相差可達10﹕1，其他同上。

典型（xíng）例子：絕緣與導體粘附不佳的聚乙烯（xī）電纜的放電。q與試驗電壓關係不大（dà）。（圖 5—02）

如果隨試驗電壓升高，放電幅值也增大，而且放電波形變得（dé）模糊，則往往是含有（yǒu）不（bú）同大小多個氣泡，或是外露的金屬（shǔ）與（yǔ）介質表麵之間出現的表麵放電。（圖 5—03）

（四）下麵介紹一些主要視為幹擾或非（fēi）正常放電的情況：

（1）懸浮電位物體放電（diàn）波形特點：

在電壓（yā）峰值前的正負半周兩個象限裏出現幅值。脈衝數（shù）和位置（zhì）均相（xiàng）同，成對出現。放電可移動，但它們間的相互間隔（gé）不變（biàn），電壓升高時，根數增加，間隔（gé）縮小（xiǎo），但幅值不變。有時電壓（yā）升到（dào）一定值時會消失，但降至此值又重新出（chū）現。

原因：金屬間（jiān）的間隙產生的（de）放電，間隙（xì）可能是地（dì）麵上兩（liǎng）個獨立的金屬體間（通過雜散電容耦合）也可能在樣品（pǐn）內，例如屏蔽鬆散。

         （圖 5—04）

（2）外（wài）部頂端電暈放電波形特點：

起始放電僅出現在試驗電壓（yā）的一個半周上，並對稱地分布在峰（fēng）值兩側。試驗電壓升高時，放電脈衝數急（jí）劇增加（jiā），但幅值不變，並向兩側伸展。                    

原因（yīn）：空氣中（zhōng）高壓頂端或邊（biān）緣放（fàng）電。如果（guǒ）放電出現在（zài）負半周，表示頂端處於高壓，如果放電出現在正半周則頂端處於地電（diàn）位。

(圖5—05)

（3）液體介質中的頂端電暈放電波形特點：

             （圖 5—06）

放電（diàn）出現在兩個半周上，對稱地分布在峰值（zhí）兩側。每一組放電均為等間隔，但一組幅值較大的放電先出現，隨（suí）試驗電壓升高而（ér）幅值增大，不一定等幅值（zhí）；一組（zǔ）幅值小的放電幅值（zhí）相等，並且不（bú）隨電壓變化。

原因：絕緣液體（tǐ）中（zhōng）頂端或邊緣放電。如一組大的放電出現在正半（bàn）周，則頂端處於（yú）高壓；如出現在負半周，則頂端地電（diàn）位。

（4）接觸不佳的幹擾圖形。            

            （圖 5—07）

波形特點：對稱地分布在實驗電壓零點兩側，幅值大致不（bú）變，但在實驗電壓峰值（zhí）附近（jìn）下降為零。波形粗糙（cāo）不清晰，低電壓下（xià）即出現。電壓升高時，幅值緩慢增加，有時在電壓達到一定值後會全部消失。

原因：實驗回路（lù）中金屬與金屬不佳接觸的連接點；塑料電纜屏蔽層半導體粒（lì）子的不佳（jiā）接觸；電容器鋁箔（bó）的插接片等（可將電容器充電然後短路來消除）。              

（5）可控矽元件的幹擾圖形。

                （圖5—08）

波形特點：位置固定，每隻元件產生一個（gè）獨立訊號。電路（lù）接通，電磁耦合效應增強（qiáng）時訊號幅值增加，試驗調壓時，該（gāi）脈衝訊號會發生高頻波形展（zhǎn）寬，從而（ér）占位增加。

原因：鄰近有可控矽元件在運（yùn）行。

（6）繼電器、接觸器（qì）、輝光（guāng）管等動作的幹擾。

           （圖 5—09）

波形特點：分布不規則或間斷出（chū）現，同（tóng）試驗電壓無（wú）關。

原因：熱繼電（diàn）器、接觸器和各種火花試（shì）驗器及有火花放電的記錄器動作時產生。

（7）熒光燈的幹擾圖形（xíng）。

            （圖5—10）

波形特點：欄柵狀，幅值大致相同的脈衝，伴有正負半波對稱出現的兩簇脈衝組。

原因：熒光燈照明

（8）無線電幹擾的幹擾圖形。

          （圖5—11）

波形特點：幅值有調製（zhì）的高頻正弦波，同試驗電壓無關。

原因：無線電話、廣播話筒、載波通訊等。

（9）電動機幹擾的幹擾圖形（xíng）（圖5—12）                          

              （圖5—12）

波（bō）形特（tè）點（diǎn）：放電波形沿橢圓基線均勻分布，每個單個訊號呈“山（shān）”字形（xíng）。

原因：帶換向器的電（diàn）動機，如電（diàn）扇、電吹風運轉時的幹擾。

（10）中高頻工業設備的（de）幹擾圖形。

              （圖5—13）

波形特點：連續發生（shēng），僅出現在電源波形（xíng）的（de）半周內。

原因：感應加熱（rè）裝置和頻率接近檢測頻（pín）率的超聲波發生器等。

（11）鐵芯（xīn）磁飽和諧波的幹擾圖形（圖5—14）                  

           （圖（tú）5—14）

波形特（tè）點：較低頻率的諧波振蕩，出現在兩個半周上，幅值隨試驗電壓升高而增大，不（bú）加（jiā）電（diàn）壓（yā）時消失，有重（chóng）現性。

原因：試驗係統各種鐵芯（xīn）設備（試驗變（biàn）壓（yā）器、濾波電抗器、隔離變壓器等）磁飽和產生的諧振。                                

（12）電極在電場方向機械移動的幹擾圖形。

           （圖 5—15）

波形特點：僅在試驗電壓的半周（正或負）上出現（xiàn）的與峰值對（duì）稱的（de）兩個放電響應，幅（fú）值相等，而脈衝方向相反，起始電（diàn）壓時兩個脈衝在峰值處靠得很近，電壓升高時逐漸分開，並可能產生（shēng）新的脈衝（chōng）訊號對。

原因：電極的部分（fèn）（尤其是金屬（shǔ）箔（bó）電極）在電場作用下運（yùn）動。                          

（14）漏電痕跡和樹枝放電

波形特點：放電（diàn）訊號波形與一般典型圖象均不符合，波形不（bú）規則不確定。

原因：玷汙了的絕緣上漏電或絕緣局部過熱而致的（de）碳化痕跡或樹（shù）枝（zhī）通道。

在放電測試中必須保證測試回（huí）路中其（qí）它元件（試驗變壓器、阻塞（sāi）線圈、耦合電容器、電壓表電阻等）均不放電，常用的辦法是用（yòng）與試品電容數（shù）量級相同的無放電電容或（huò）絕緣結構取代試品試驗，看看（kàn）有無放電。

了解了各種放電類型的波形特征，來源以及識別幹擾（rǎo）後就可按具體情況采取（qǔ）措施排除幹擾（rǎo）和正確地進行放電測（cè）量了。

第七章     局部放電測試當中應該注意的問題

實驗前，試品的絕緣表麵（尤（yóu）其是高壓端）應作清潔化處理

2、   各連接點應接觸良好，尤（yóu）其是高（gāo）壓端不要留下尖銳的接點，高壓導線應盡可能粗以防電暈，可用蛇皮管。

輸入單元要盡量靠近試品，而且接地要可靠，接（jiē）地線*好用（yòng）編織銅帶（dài）。主機也須接地，以（yǐ）保證**。

試驗回路盡可能緊湊。即高壓連線盡（jìn）可（kě）能短，試驗回路所圍麵 積盡可能小。

在進行110KV及以上等級的局放試驗時，試品周圍的懸浮金屬物體應妥善接地。

考慮到油浸式試（shì）品（pǐn）局（jú）部放電存在（zài）滯後效（xiào）應，因此在局放試驗（yàn）前幾小時，不要對試品施加超過局部放電試驗電壓的高電壓。

近日，日立能源宣布將為國家電網公司陝北—安徽±800千伏特高壓直流輸電工（gōng）程提供**的高壓直流換流閥（fá）及濾波器組電（diàn）容器產品（pǐn），通過（guò）**、可靠技術（shù）支持電網基礎設施的高質量發展，並推進可再（zài）生能源的並網消納。

為推進可再生能源的開發利用，提升能源電力的（de）大範圍遠距離輸送能力，中國（guó）不斷加快建（jiàn）設跨省市（shì）、跨區域的（de）能源網絡基礎設施。其中“西電東送”工程是中國（guó）破解國內能源空（kōng）間製約、加速綠色轉型的重要途徑。截（jié）至2024年，該項工程累計輸電（diàn）能力超過3億（yì）千瓦，支撐我（wǒ）國東中部地區約20%的用電需求1。

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