影響變頻伏安特性綜合測試儀的因素與解決方法，既要（yào）掌握儀器性能，也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層測厚儀都是（shì）基於被測基體的電、磁特性及與（yǔ）探（tàn）頭的距離來（lái）測量覆層厚度的，所以，被測（cè）基體的電磁（cí）物理特性與物理尺寸（cùn）都要影響磁通與電渦流的大小（xiǎo）。即影響到測量值的可靠性（xìng），下麵就這方麵的問題作一下介紹。
1.邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截麵變化處的（de）間距小於規定的邊界間距，由於（yú）磁通或渦流載（zǎi）體（tǐ）截麵不夠（gòu）將導致測量（liàng）誤差。如必須測（cè）量該點的覆層厚度，隻有預（yù）先在（zài）相同條（tiáo）件的無覆層表麵進行校準，才能測量（liàng）。（注：*新的產品有（yǒu）透過覆層（céng）校準的獨特功能可達3～10％的精度）
2.基體（tǐ）表麵曲率在（zài）一個平直的對（duì）比（bǐ）試樣上校準好一（yī）個初始值，然後在測量覆層厚（hòu）度後減去這個初始值。或參照（zhào）下條。
3.基體金屬*小厚度基體金屬必須（xū）有（yǒu）一個給定的*小厚度（dù），使探（tàn）頭的電磁場能完全包容在基體金屬中，*小厚度（dù）與測量器的（de）性能及金屬基體（tǐ）的性質有關，在這個厚度之上剛好可以進行（háng）測量而不（bú）用對測量（liàng）值修（xiū）正。對於基體（tǐ）厚度不夠而產生的影響，可（kě）以采取（qǔ）在基材下麵緊貼一塊相同材料的措施（shī）予以消除。如難（nán）以決斷，或無法（fǎ）加基材則可以通過與已知（zhī）覆層厚度的試樣進行對比來確定與額定值（zhí）的差值。並且在（zài）測量中考慮這（zhè）點而對（duì）測量值作相應的修正或參考第2條（tiáo）修（xiū）正。而那些（xiē）可以標定的儀器（qì）通過調整旋鈕或按鍵，便可以得到（dào）準確的直讀厚（hòu）度值。反之利（lì）用厚（hòu）度太小產（chǎn）生的影響又可以研製直接測銅箔厚（hòu）度（dù）的測（cè）厚（hòu）儀，如前所述。
4.表麵（miàn）粗糙（cāo）度和表麵（miàn）清潔度在粗糙度表麵上（shàng）為獲得一個有代表性的平均測量值必須進（jìn）行多次測量（liàng）才（cái）行。顯而易（yì）見（jiàn），不論是（shì）基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。為獲得可靠的數據，基（jī）體的平均粗糙度Ra應小於覆層厚度的5％。而對於表麵雜質，則應予去除。有的儀表上（shàng）下限（xiàn），以剔除那些“飛點”。
5.探頭測量板的作用力探頭測量時的作用力應是恒定的。並應（yīng）盡可能小。才不致使軟（ruǎn）的覆層發（fā）生形變，以致測量值下降。活產生（shēng）大的波動，必要時，可在兩者（zhě）之間墊（diàn）一層硬的，不導電的，具有一定厚度（dù）的硬性（xìng）薄膜（mó）。這樣通過減去薄膜厚度就能適當地得到剩磁。
6.外界恒磁場、電磁場和（hé）基體剩磁應該避免在有幹擾作用的外界磁場附近進行測量。殘存的剩磁，根（gēn）據檢測器的性（xìng）能可能導（dǎo）致或多或少的（de）測量誤差，但是如結構鋼，深衝成形鋼板等一般不會出現上述現（xiàn）象。
7.覆層材料（liào）中的鐵磁成份和導電成份覆層（céng）中存在某些（xiē）鐵磁成分，如某種顏（yán）料時（shí），會對測量值產生影響（xiǎng），在這種情況（kuàng）下，對用作校準的對比試樣覆層應具有與被測物覆層相同（tóng）的電磁特性（xìng），經校準後使用。使用的方法可以（yǐ）是將同樣的覆層塗在鋁或銅板試樣上，用電渦（wō）流法測試後獲得對比標準試樣。