局部放電測試儀使用時勿用力按壓顯示屏（píng）

局部放電測試儀使用時勿用力（lì）按壓顯示屏

一、定義及產生原因

在電場作用下，絕緣係（xì）統中隻有部分區域發（fā）生放（fàng）電，但尚未擊穿，（即（jí）在施加電（diàn）壓的導體之間沒有擊穿）。這種現象稱之為局部放電。局部放電可能發（fā）生在導體邊上（shàng），也可能發（fā）生在絕緣體的表麵上和內部，發生在表麵（miàn）的稱為表麵局部放電。發生在內部的稱（chēng）為內部局部放電（diàn）。而對於被氣體包圍（wéi）的導體附近發生的局部放電，稱之為電（diàn）暈。由此 總（zǒng）結一下局部放電的定義，指部分（fèn）的橋接導（dǎo）體間絕緣（yuán）的一種電氣放電，局部放電產生（shēng）原因主（zhǔ）要有以下幾（jǐ）種：

電場不均勻。

電介質不均勻。

製（zhì）造過程的氣泡或雜質。*經常發生放電的原因是絕緣（yuán）體內部或表麵存在氣泡；其次是有些設備的運行過程中（zhōng）會發生熱脹冷縮,不同材料（liào）特別是導體與介質的膨脹係數不同，也（yě）會逐漸出現裂縫；再有一些是在運行（háng）過程中有機高分子的老化，分解出各種揮發物，在高（gāo）場強的作用下，電荷不（bú）斷地由導體進入介質中， 在注入點上就會使介質氣化。

局部放電測試儀使用時勿用力按壓顯示屏（píng）

二、模擬電路及放電過程簡介

介質內部含有氣泡，在交流（liú）電壓下產生的內部放電特性可由圖1—1的模擬（nǐ）電（diàn）路(a b c等值電路)予以表示；其中Cc是模擬介質中產生（shēng）放電間隙(如氣泡)的電容；Cb代表與Cc串聯部分介質的合成電（diàn）容；Ca表示其餘部分介質的電容。

(a)  實際介質                            (b)  模擬電路

I——介質（zhì）有缺陷(氣泡)的部份(虛線表示)

II——介質無缺（quē）陷部份

圖1—1  表示具有內部放（fàng）電的模擬電路

圖1—1中以並聯有—對火花間隙的電（diàn）容Cc來模擬產生局部放電（diàn）的內部氣泡。圖1—2表示了在交流電壓下局部放（fàng）電的發生過程。

圖1-2  介質內單個（gè）氣泡（pào）在交流電（diàn）壓（yā）下的局部（bù）放電過程

U(t)一一外施交流電壓

Uc(t)一（yī）一（yī）氣泡不擊穿時在氣泡上的電壓

Uc’(t)一一有局部放（fàng）電時氣泡上的（de）實際電壓

Vc一一氣泡的擊穿電壓

Y r一（yī）一氣（qì）泡的殘餘電壓

Us—局部放電起始電壓(瞬時值)

Ur一一與氣泡殘餘電壓v r對應的（de）外施電壓

Ir一一氣（qì）泡中的放電電流

電極間總電容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電極間施加交（jiāo）流電壓 u(t)時，氣泡電容Cc上對應的電壓為Uc(t)。如圖2—1所示，此時的Uc(t)所代（dài）表的是氣（qì）泡理想狀態下的（de）電壓（既氣泡不發生擊穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外施（shī）電壓U(t)上升時（shí），氣泡上電壓Uc(t)也上升，當U(t)上升到Us時，氣泡上電壓Uc達到氣泡擊穿電壓,氣泡擊穿，產生大量的（de）正、負離子，在（zài）電場作用下各自遷移到氣泡上（shàng）下壁，形（xíng）成空間電菏，建立反電場（chǎng），削弱了氣泡（pào）內的總（zǒng）電場（chǎng）強度，使放（fàng）電熄滅，氣泡又恢複絕緣性能。這樣的一次放電持續（xù）時間是極（jí）短暫的，對一般的空氣氣泡來說（shuō），大約隻有幾個毫微秒(10的（de）負8次方到（dào）10的負9次方秒)。所以（yǐ）電壓Uc(t)幾乎瞬間地從Vc降到Vr，Vr是殘餘電壓；而氣（qì）泡上電壓（yā）Uc‘(t)將隨U(t)的增大而繼續由Vr升高到Vc時，氣（qì）泡再—次擊穿，發生又—次局部放電，但此時（shí）相應的外施電壓比Us小（xiǎo），為（wéi）(Us-Ur)，這是因為氣泡上有殘餘電壓Vr的內電場作（zuò）用（yòng）的（de）結果。Vr是與氣泡（pào）殘餘電壓Yr相應的外施電壓，如此反複上（shàng）述過程，即外施電壓每（měi）增加(Us-Ur)，就（jiù）產生一次局部放電．直（zhí）到前—次放電熄滅後，Uc’(t)上升到峰值時共增量不（bú）足以達Vc(相當於外施電壓的增（zēng）量Δ比(Us-Ur)小)為止。

此後，隨著外施電壓U(t)經過峰值（zhí）Um後減小，外施電壓在氣泡中建立反方向電場，由於氣泡中殘存的內電場電壓（yā）方向（xiàng）與外電場方向相（xiàng）反，故外施電壓須經(Us+Ur))的電（diàn）壓變（biàn）化，才能使氣泡上的電壓達到擊穿電壓Vc，(假定正、負方向擊穿電壓Vc相等（děng）)，產生一次局部放電。放電很快（kuài）熄滅（miè），氣泡中電壓瞬（shùn）時降到殘餘電壓Vr(也假定正（zhèng）、負方向相同)。外施電壓繼（jì）續下降，當再下降(Us-Ur)時，氣泡電壓就又達到Vc從而又產生一次局部放電。如此重複上述過程，直到外施（shī）電壓升到反向蜂值一Um的增量Δ不足以達到(Us-Ur)為止（zhǐ）。外施電壓經過一Um峰值後，氣泡上的外電場方向又變為正（zhèng）方向（xiàng），與氣泡殘餘電壓方向相反，故外施電壓又須上升(Us+Ur)產生第—次（cì）放電，熄（xī）滅後，每經過Us—Ur的電壓上升就產生一次（cì）放電，重複前（qián）麵所介紹的過程。如圖1—2所示。

由以上局部放電過（guò）程分析，同時根據局部放電的特點（同種試品，同樣的環（huán）境下，電（diàn）壓越（yuè）高局部放電量越大）可（kě）以知道：一般情況（kuàng）下，同一試品在一、三象限的局部放電量大於二、四象限的（de）局部放電量。那是因為它們是電壓的上升沿。（第三（sān）象限是電壓負的上升沿）。這就是我們測量中為什（shí）麽把時（shí）間窗（chuāng）刻意擺在（zài）一、三（sān）象限的原因。

局部放電測（cè）試儀使用時勿用力按壓顯示屏

三（sān）、測量原理：

局放儀運（yùn）用的原理是脈衝電（diàn）流法原理，即產生一次局部放電時，試品Cx兩端產生一個瞬時電壓變化Δu，此時若經（jīng）過電Ck耦合（hé）到（dào）一檢測阻抗Zd上，回路就會產生一脈衝電流I，將脈（mò）衝電流經（jīng）檢測阻抗產生的脈衝電壓信息，予以檢測、放大和顯示等處（chù）理，就可以測定局部放電（diàn）的一些基本參量（主要是放電量q）。在這裏需要指出的是，試品內部實際（jì）的局（jú）部放電量是無法測量的，因為試品內（nèi）部的局部（bù）放電脈衝的傳輸路徑和方向是極其複雜的，因此我們隻有通過對比（bǐ）法來檢測試品的視在放電電荷，即在測試之前先在試（shì）品兩端（duān）注入一（yī）定的電量，調節放大倍數來建立標尺，然後將在實（shí）際電（diàn）壓（yā）下收（shōu）到的試品內（nèi）部的局部（bù）放電脈衝和（hé）標尺進行對比，以此來得到試品的視在放電電荷。

局部放電測試儀（yí）使用時（shí）勿用力按壓顯（xiǎn）示屏

四、局部（bù）放電的（de）表征參數

局部（bù）放電是（shì）比較複雜的物（wù）理現象，必須通（tōng）過多種表征參數（shù）才能**的描繪其狀態，同時局部放電對絕緣破壞（huài）的機理也是很複雜的，也需要通過不同的參數（shù）來評定它（tā）對絕緣的損害，目（mù）前我們隻關心兩個基本參數（shù）。

視在放電電荷——在絕緣體中發（fā）生局部放電時，絕緣體上施加電壓的兩端出現的脈動（dòng）電荷稱之為視在放電電荷，單位用皮庫（pc）表示，通常以穩定出現的*大視（shì）在放電電荷作為該試（shì）品的放電量。

放電重複率——在（zài）測量時間內每秒中出現的放電次數的平均值稱為（wéi）放電重複率，單位為（wéi）次/秒，放電重複率越（yuè）高，對絕緣的損害（hài）越大。

局放測試的（de）試驗係統接線。

在了解了局部放電的基本理論之後（hòu），在本章我們（men）的重（chóng）點轉向實際操作，我們先介紹局部放電測試中常用的三（sān）種接法（fǎ），隨（suí）後我們再介（jiè）紹整個係統的接線電路，*後我（wǒ）們再分別介紹幾種典型的（de）試品的試驗線路。

局部放電測試電路的三種基本接法及優缺（quē）點。

標（biāo）準試驗電路，又稱並聯法。適合於必須接地的試品。

其缺點是高壓引線對地雜散電容並聯在 CX上，會降（jiàng）低測試靈敏度。

接法的串（chuàn）聯法，其（qí）要求試品低（dī）壓端（duān）對地浮置。

其優點是變壓（yā）器入口電容、高壓線對（duì）地雜散電（diàn）容與耦合電容CK並聯，有利於提高試驗靈敏度。缺點是試樣損壞時會損壞輸入單（dān）元。

平衡法試驗（yàn）電路：要求兩個試品相接近，至少電容量為同一數量級其優點是外幹擾強烈的（de）情況下，可取（qǔ）得較好抑製幹（gàn）擾的效果，並（bìng）可消（xiāo）除變壓器雜散電容的影響，而且可做大電容試驗。缺點是須（xū）要（yào）兩個相似的試品，且當產生放電時，需設法判別是哪個試品放電。

值得提出的是：由於現（xiàn）場試驗條件的限製（找到兩個相（xiàng）似的試品且要保證一（yī）個試品無放電不太容易），所以在現場平衡法比（bǐ）較難實現，另外，由於采用串（chuàn）聯法時，如果試品擊穿，將會對（duì）設備造成比較大的損害，所以出於對設備保護的想法，在現場試驗時一般采用並聯法。

采用並聯法的整個係統的接（jiē）線（xiàn）原理（lǐ）圖。

該係統（tǒng）采用脈衝電（diàn）流法檢測高壓（yā）試品的局部放電（diàn）量，由控製台控製調（diào）壓（yā）器和變壓（yā）器在試品（pǐn）的高壓端產生測試局放所需的預加（jiā）電（diàn）壓（yā）和測（cè）試（shì）電壓，通過無（wú）局放藕合電容器和檢測阻抗將局部放（fàng）電信號取出並送至局部放電檢（jiǎn）測儀顯（xiǎn）示並判斷（duàn）和（hé）測量。係統中的高壓電阻為了防止在測（cè）試過程中試品擊穿而損壞其（qí）他設備，兩個電源濾波器（qì）是將電源（yuán）的幹擾和整個測試（shì）係統分開，降低整（zhěng）個測試係統的背景幹擾（rǎo）。

根據上述原理圖可以看出，局部放電測試的靈敏度和準確度和整個係統密切相關，要想順（shùn）利和（hé）準確的進行局部放電測試，就必須將整個係（xì）統考濾周到，包（bāo）括係統的參數（shù）選取和連接方（fāng）式。另外，在（zài）現場試驗時，由於是驗（yàn）證性試（shì）驗，高壓限流電阻可以省掉。

幾種典型試（shì）品的接線原（yuán）理圖（tú）。

（1）電流互感器（qì）的局放測試接線原理圖

a電流互感器接線

（2）電（diàn）壓互感器的局放測試接線（xiàn）原理圖

A．工頻加壓方式（shì）接線原理圖

B．高（gāo）頻加壓（yā）方（fāng）式接線原理圖

為了防（fáng）止電壓互感器在工頻電壓下產生大的勵磁（cí）電（diàn）流而（ér）損壞，高壓電壓（yā）互（hù）感器一般采取（qǔ）自激勵的加（jiā）壓方式。在電壓互感器的低壓側加一倍（bèi）頻電源，在電壓互感器的高壓端感應出高壓來進行局部放電實（shí）驗（yàn）。這就是通常（cháng）所說的三倍頻實驗。其接線原理圖如下：

(3)高壓電容器.絕緣子的局放（fàng）測試接（jiē）線原理（lǐ）圖

(4) 發電機（jī）的（de）局放測（cè）試接線原理圖

（5）變壓器的局部（bù）放電（diàn）測試接線原理圖

我們僅僅是在原（yuán）理性的總結了幾種典型試品的接（jiē）線原理圖（tú），至於各種試（shì）品的加壓方式和加壓值的多少（shǎo），我們在做試驗（yàn）的時侯要（yào）嚴格（gé）遵守每種試品的出廠檢驗標（biāo）準或交接檢（jiǎn）驗標準。

局部放電測試儀使用時勿用力按壓顯示屏

第三章  概述

ＫＪＦ-2020智能局部（bù）放電檢測儀是（shì）我公司*新推向市場的新一代數字智能儀器（qì），該儀器在原有產品JF-2002、JF-2006局放儀的基礎上采用嵌（qiàn）入式ARM係統作為中（zhōng）央處理單元，控製12位分辨率的高速模（mó）數轉換芯片進行數據采集，將采集到的數據存（cún）放在雙端口RAM中。實現從模擬到（dào）數字的跨越。使（shǐ）用26萬色高分辨率TFT-LCD數字液（yè）晶（jīng）顯示模組實時顯示放電脈衝波形，配備VGA接口，可（kě）外接顯（xiǎn）示器。與傳統的模擬（nǐ）式示波管顯示局部放電檢測儀相比有以下特點：

1.彩色顯示器，雙色顯示波形，更清晰直觀；

2.可鎖定波形，更方便仔細查看放電（diàn）波形細節；

3.自動測量（liàng）並顯示試驗電源時基頻率，無需手動切換；

4.配備VGA接口（kǒu），可（kě）外接大尺寸顯示器；

5.與示波管相比壽命（mìng）更長。

6.具（jù）有波形鎖定、打印試驗報告功能

本儀器檢測靈敏度高，試樣電容覆蓋範圍大，適用試品範圍廣，輸（shū）入（rù）單元（檢測阻抗）配備齊全，頻帶組合多（九種（zhǒng））。儀器經適當定標後能（néng）直讀放電脈衝（chōng）的放電量。

本儀（yí）器是（shì）電力部門、製造廠家和科研單位等廣（guǎng）泛使用的局部放電測試儀器。

第四章 主要技術（shù）指標：

1．可測試品的電（diàn）容範圍： 6PF—250uF。

2．檢測（cè）靈敏度（見表一）：

表一

3、放大器頻帶：

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放（fàng）大（dà）器增益調節：

粗調六檔，檔間（jiān）增益20±1dB；細（xì）調範圍≥20dB。每檔之間數據為10倍關係（xì）：如第三（sān）檔檢測數據為98，則**檔顯示數據為9.8，如（rú）在第三檔檢測（cè）數據超過120，則應調至**檔來（lái）檢測數據，所得數（shù）據應乘（chéng）以10才為實際測量（liàng）值。

5、時間（jiān）窗：

（1）窗寬：可調範圍15°-175°；

（2）窗位置：每一窗可旋轉0°- 180°；

（3）兩個時間窗可分別開或同時開（kāi）。

6、放電量表（biǎo）：

0-100誤（wù）差<±3％（以滿度計）。

7、橢圓時基：

（1）頻（pín）率（lǜ）：50HZ、或外部電源同步（任意頻（pín）率）

（2）橢圓旋轉：以（yǐ）30°為一檔，可作360°旋轉。

（3）顯示方式：橢圓—直線。

8、試驗電壓表（biǎo）：

精（jīng）度：優於±3％（以滿度計）。

9、體積： 320×480×190（寬×深×高）mm3。

10、重量：約15Kg。

三、係統工作原理：

本機（jī）的局部放電測試原（yuán）理（lǐ）是高頻脈衝電流測量法（fǎ）（ERA法）。

試品Ca在試驗電壓下產生局部放電時，放（fàng）電脈衝信號經（jīng）藕合電容Ca送（sòng）入輸入（rù）單元，由輸入單元拾取到脈衝信號，經低（dī）噪聲前（qián）置放大器（qì）放大，濾波放大器選（xuǎn）擇所需頻帶及主（zhǔ）放大器放大（達（dá）到所（suǒ）需幅值與產生零標誌脈衝）後（hòu），在示波屏的（de）橢圓掃描基線上（shàng）產生可見的（de）放電脈衝，同時也送至脈衝峰值表顯示其峰值。

時間窗單元控製試驗電壓每一周期內脈（mò）衝峰值的工作時間（jiān），並在這段時間內將示波屏的相應顯示區加亮，用它可（kě）以（yǐ）排除固定相位的幹擾。

試驗電（diàn）壓表（biǎo）經電容分壓器產生（shēng）試驗電壓過零標誌訊號，在示波屏上顯示零標脈衝，橢圓時基上兩個零標脈衝，通過時間窗的寬（kuān）窄調節可確定試驗電壓的相位，試驗（yàn）電壓大小由（yóu）數字電壓表指示。

整個係統的（de）工作（zuò）原理（lǐ）可參看方框圖（圖一）。

四、結構說明（míng）

本儀（yí）器為（wéi）標準機箱結構，儀器分前麵板及後麵板兩部分，各調節元件的位置及位置和功能見下圖說明。

1、4：長按改變門窗的（de）位置

2、3：長按改變門窗的寬度

5：時鍾設置按鈕

6：按9號鍵鎖定後再按此鍵，即可（kě）打印試驗報告

7：分壓比設置按鈕

8：門開關，重複按可選擇左右門

9：波形鎖定按鍵

10：橢圓旋轉按鈕

11：顯示方（fāng）式按鈕

12：取消按鈕

A、B、C通道選擇旋鈕與後麵板A、B、C測量通道相對應

備注： 如需數據導出（chū），步驟如（rú）下：

（1）在電腦上安裝好RS232通用串口線驅動。（驅動盤（pán）裏有安裝（zhuāng）介紹）及局放試（shì）驗報告（gào）編輯器軟件（jiàn）。

（2）將串口線和局放儀後麵的數據接口連接好。

（3）將需要保存（cún）的波形鎖定然後點（diǎn）擊 局（jú）放（fàng）試驗報告編輯器

（4）點擊Start鍵生（shēng）成鎖定後的數據，然後點擊測試報告如（rú）下圖所示：

（5）點擊測試報告（gào）後則會（huì）出現局放試驗報告編輯器可以根據（jù）需要（yào）填寫上麵的內容。

（6）填寫好表格後點擊（jī）生成報（bào）告數據會以Word文檔的形式出（chū）現，再將數據保存至電腦，如下圖所示：

第五（wǔ）章  操作說明

1、試驗準備：將機器後麵（miàn）板的三個開關（guān）都置於（yú）“關”的狀態

（1）檢（jiǎn）查試（shì）驗場地（dì）的接地情況，將本儀器後部的接地螺（luó）栓用粗銅線（*好（hǎo）用編製銅帶）與試驗場地的接地妥善相接（jiē），輸入單元的（de）接地短路（lù）片也要（yào）妥善接地。

（2）根椐試品電容Ca，藕合電容Ck的大小，選取合適序號的輸入單元（表一），表一中（zhōng）調諧電（diàn）容量是（shì）指從輸入單元初級繞組兩端看（kàn）到的電（diàn）容（按Cx和Ck的串聯值粗（cū）略估算）。

輸入（rù）單元應盡量靠近被測試品，輸入單元插座經（jīng）8米（mǐ）長電纜與後麵板上輸入插座相接。

（3）試品（pǐn）接入輸入單元的方法主要有以下幾種：

圖中：Ca——試品（pǐn）    Ck——藕合電容    Z——阻塞阻抗

R3、C3、R4、C4——橋式（shì）接法中平衡調節阻抗。

（4）在高壓端接上電壓表電阻或電容分壓器，其輸出經（jīng）測量電纜接到後麵板試驗電壓輸入插座30。

（5）在（zài）未加（jiā）試驗電（diàn）壓的情況下，將JF-2006校正脈衝發生（shēng）器的輸出接試品兩端。

2、使用步驟

（1）開機準備：將（jiāng）時基顯示方式置於“橢圓”。

（2）放電量的校正：按圖接好線後，在未加試驗電壓（yā）之前

用LJF-2006校正脈衝發生器予以校正。

注意：方波測量盒應盡量靠近試（shì）品（pǐn）的高（gāo）壓端。紅端子引線接高壓端。

然後調節放大器增益調節，使（shǐ）該（gāi）注入脈衝高度適當（示（shì）波（bō）屏上高度2cm以下），使（shǐ）數字表讀數值與注入的（de）已（yǐ）知（zhī）電量相符。調定後放大器細調旋鈕的位置（zhì）不能再（zài）改變，需保持與校正時相同。

校正完成（chéng）後必須去掉校正方波發生器與（yǔ）試驗（yàn）回路的連（lián）接。

（3）測（cè）試操作：

接通（tōng）高壓試驗回路電源，零標開關至“通”位置，緩緩升高試驗電壓，橢圓上出現兩個零標脈衝。

旋轉“橢圓旋轉”開關，使橢圓旋轉到預期的放電處於（yú）*有利於（yú）觀測的位置，連續升高電壓，注意**次（cì）出（chū）現的持續放電，當放電量超過規定的*低值時的電壓即為局部（bù）放電起始電壓。

在規（guī）定的試（shì）驗電壓下，觀測到放電（diàn）脈衝信號後，調節放（fàng）大器粗調開關（注意：細調旋鈕的位置不能再變動），使顯示屏上放電脈衝高度（dù）在0.2~2cm之間（數字電壓表上的PC讀（dú）數有（yǒu）效數字不能超過120.0），超過120至需要降低增（zēng）益檔測量。

注意：

本儀器使用數字表顯示放電量，其滿度值定（dìng）為100超過該值（zhí）即為過載，不（bú）能保證精度（dù），超過（guò）該值需撥動增益粗調（diào）開（kāi）關轉換到低增益檔。

試驗過程中常會發現有各種幹擾，對於固定相位的幹擾，可用時間窗裝置來避開。合上開關用一個或兩個時間窗，並（bìng）調節門寬位置來改變橢圓上（shàng）加亮（liàng）區域（黃色）的寬度和位置，使其避開幹擾脈衝之處，用時間窗（chuāng）裝（zhuāng）置可以分別測量產（chǎn）生於兩個半波（bō）內的放電量。

三（sān）倍頻感應法的試驗（yàn）步驟：將高（gāo）頻電源接入儀器後麵板的高頻電源插座，並（bìng）將電源（yuán）開關置於（yú）“開”的位子，其他試驗方式（shì）同前試驗。

打印報告：完成試驗後，若需要記錄試驗數據，隻需要按鎖定按鍵，然（rán）後按打印按鈕就可以直接打印試（shì）驗數據報告。

第六章  抗幹擾措施和局部放電圖譜簡介

對（duì）於局部（bù）放電實驗我們*怕的就是幹（gàn）擾（rǎo），下麵簡單介紹一下實驗中可能遇到的幹擾以及抗幹擾的方法：

測量的幹擾分類

幹擾（rǎo）有來自電網的和來自空間的。按表現形（xíng）式分又分為固定的（de）和移動的。主要的幹擾源有以下一些：

①懸浮電位物體放電，通過對（duì）地雜散電容耦（ǒu）合

②外部**電暈

③可控矽元件在鄰近運行

④繼電（diàn）器，接觸器，輝光管（guǎn）等物品

⑤接觸**

⑥無線電幹擾

⑦熒光（guāng）燈幹擾

⑧電動機幹擾

⑨中高頻（pín）工業設備

（二）抗幹擾方（fāng）法

采用帶調壓器，隔離變壓器和濾波器的控製電（diàn）源

設置（zhì）屏蔽室，可隻屏（píng）蔽試驗回路部分

可靠的單點接地，將試驗回路係統設計成單點（diǎn）接地結構，接地電阻要小，接地點要與（yǔ）一般試驗室的地網及電力網（wǎng）中線分開。

采用高壓濾波器（qì）

用平衡法或橋式試驗電路

利用時間窗，使固定相位幹擾處（chù）於亮窗之（zhī）外

采用較窄頻帶，或用頻帶躲開幹擾大的頻率範圍（wéi）

在高壓端加裝高壓屏蔽罩或半導體橡膠（jiāo）帽（mào）以防電暈幹擾

試驗電路遠（yuǎn）離周圍物體，尤其是懸（xuán）浮的金屬固（gù）體！

（三）初做實驗者對波形辨認還是有（yǒu）一定困難的，下麵就簡單介紹一     放電類型和幹擾的初步辯認：

1． 典（diǎn）型的內部氣泡放電的波形特點：(圖 5—01)

A．放（fàng）電主要顯示在（zài）試驗（yàn）電壓由零（líng）升到峰值的兩個橢圓象限內。

B．在起始電壓（yā）Ui時（shí），放電通常發生在峰值附近，試驗電壓超過Ui時（shí），放電向零相位延伸。

C．兩個相反半周上放電次（cì）數和幅值大致相（xiàng）同（*大相差至3：1）。

D．放電（diàn）波形可辯。

E．q與試驗電（diàn）壓關係不大，但放電重複率（lǜ）n隨試驗電壓上升（shēng）而加大。

F．局部放電起始電（diàn）壓Ui和熄滅電壓Ue基本相等。

G．放電量q與時間關係不（bú）大。

H．如果放電量隨試驗電壓上升而增大，並且（qiě）放電波（bō）形變得模糊不可分辨，則往往是介（jiè）質內含有多種大小氣泡，或是介質表麵放電。如果除了上述情況，而且放電幅值隨加壓時間而迅速增長（可達100倍或（huò）更多），則往往是絕緣液（yè）體中的氣泡放電，典型例子（zǐ）是油浸紙電容（róng）器的放電。

(圖 5—01)

2． 金（jīn）屬與介質間氣泡的放（fàng）電波形特點：

正半（bàn）周有許多幅值小（xiǎo）的放電，負（fù）半周有很少幅值大（dà）的放電。幅值相差可達10﹕1，其他同上。

典型（xíng）例子：絕緣與導（dǎo）體粘附**的聚乙烯電纜的（de）放（fàng）電。q與（yǔ）試驗電壓關係不大。（圖 5—02）

如果隨試驗電壓升高（gāo），放電幅值也增大，而且放電波形變得模糊，則往往是含有不（bú）同大小多個氣泡，或是外露的金屬與（yǔ）介質表麵之間出現的表麵放電。（圖 5—03）

（四）下麵介紹（shào）一些主要視為幹（gàn）擾或非正常放電的情況（kuàng）：

（1）懸浮電（diàn）位物體（tǐ）放電波形特點：

在電壓峰值前的正負半周兩個象限裏出現幅值。脈衝數和位置均相同，成對出現。放電可（kě）移動，但它們間的相互間隔不（bú）變，電壓升高時（shí），根數增加，間隔縮小，但幅值不變。有時電壓升到一定（dìng）值時會消失，但降至（zhì）此值又重新出（chū）現。

原（yuán）因：金屬間的間隙產生的放電（diàn），間隙可能是（shì）地麵上兩個獨立的金屬（shǔ）體間（通過雜散電（diàn）容耦合）也可能在樣品內，例如屏蔽鬆散。

（圖 5—04）

（2）外部**電暈放電波形特點：

起（qǐ）始放電僅出現在試驗電壓的一個半周上，並對稱地（dì）分布在峰值兩側（cè）。試驗電（diàn）壓升高時，放電脈衝數急劇增加（jiā），但幅值不變（biàn），並（bìng）向兩側伸展。

原因：空氣中高壓**或邊緣放電。如（rú）果放電出（chū）現在負半周（zhōu），表示**處於（yú）高壓，如果放電出現在正半周則**處於地電位。

(圖5—05)

（3）液體介質中的**電暈放電波形特點：

（圖 5—06）

放電出現在兩個半周上，對稱地（dì）分布在峰值兩側。每一組（zǔ）放電均（jun1）為等（děng）間隔，但一組幅（fú）值較大的放（fàng）電先（xiān）出現，隨（suí）試驗電（diàn）壓升高而幅值增大，不一定等幅值；一組幅值小的放電幅值（zhí）相等，並且不（bú）隨電壓變化。

原因：絕緣液體中**或邊緣放電。如一組大的放（fàng）電出現在正半周，則**處於高（gāo）壓（yā）；如出現在（zài）負半周，則**地電位。

（4）接觸**的（de）幹擾圖形。

（圖 5—07）

波形特點：對（duì）稱（chēng）地分布在實（shí）驗電壓零點兩側，幅值大（dà）致不變，但在實驗電壓峰值附近下降為零。波形粗（cū）糙（cāo）不清晰，低電壓下（xià）即出現。電壓升高時，幅值緩慢增加，有時在電壓達到一定值（zhí）後會完全消失。

原因：實驗回路中金屬與金（jīn）屬**接（jiē）觸的連接點；塑料電纜屏蔽層（céng）半導體粒子的**接觸；電容器鋁箔的插（chā）接片（piàn）等（可將電（diàn）容（róng）器充（chōng）電（diàn）然後短（duǎn）路來消除）。

（5）可控矽元件的幹擾圖形（xíng）。

（圖（tú）5—08）

波形（xíng）特點：位置固定，每（měi）隻元件產生一個獨立訊號。電路接通，電磁耦合效（xiào）應增強時訊號幅值增加，試驗調（diào）壓時，該脈衝訊號會（huì）發生高頻波形展（zhǎn）寬，從而占位增加。

原因：鄰近（jìn）有可控（kòng）矽元件在運行。

（6）繼電器、接觸器、輝（huī）光管（guǎn）等動作的幹擾。

（圖 5—09）

波形特點：分布不規則或間斷出現，同試驗電（diàn）壓無關（guān）。

原因：熱（rè）繼電器、接觸器和各種火花試驗器及有火花放電（diàn）的記錄器動作時產生。

（7）熒光燈的幹擾圖形。

（圖5—10）

波形特（tè）點：欄柵狀，幅值大致相同的脈衝，伴有正負半（bàn）波對稱出現的兩簇脈（mò）衝組。

原因：熒光（guāng）燈照明

（8）無線電（diàn）幹（gàn）擾的幹擾圖形。

（圖5—11）

波形特點：幅（fú）值有調製的（de）高頻正弦波，同試驗電壓（yā）無關。

原因：無線電話（huà）、廣播話筒（tǒng）、載波通訊等。

（9）電動機幹擾的幹擾圖形（圖5—12）

（圖5—12）

波形特點：放電（diàn）波形沿橢圓基（jī）線均勻分布，每（měi）個單個（gè）訊號呈“山”字形。

原因：帶換向器的電動（dòng）機，如電扇、電吹風運轉時的幹擾。

（10）中高（gāo）頻工業設備的幹擾圖形。

（圖（tú）5—13）

波形特點：連續發（fā）生，僅出現在電源波形的半周內。

原因：感應加熱裝置和頻率接近檢測頻率的超聲波發生器等。

（11）鐵芯磁飽和諧波的幹擾圖形（圖5—14）

（圖5—14）

波（bō）形特點：較低頻率的諧波（bō）振蕩，出現（xiàn）在兩個半周上，幅值隨試驗電壓升高（gāo）而增（zēng）大，不加電壓時消（xiāo）失，有重現性。

原因：試驗係統各種鐵（tiě）芯設備（試（shì）驗（yàn）變壓器、濾波電抗器、隔離變壓器（qì）等）磁飽和（hé）產生的諧振。

（12）電極在電場方向機（jī）械移動的幹擾（rǎo）圖形。

（圖 5—15）

波形特點：僅在試驗電壓的半（bàn）周（正或負（fù））上出現的與峰值對稱的兩個放電響應，幅值相等，而脈（mò）衝方向相反，起（qǐ）始電壓時兩個脈衝在（zài）峰值（zhí）處靠得很近，電（diàn）壓升高時逐漸分開，並可能產生新（xīn）的（de）脈衝訊號對。

原因：電極的部分（fèn）（尤（yóu）其是金屬箔電極）在（zài）電（diàn）場作用下運（yùn）動。

（14）漏電痕跡和樹（shù）枝放電

波形特點：放（fàng）電訊號波形與一般典型圖象（xiàng）均不符合，波形不規則不確定（dìng）。

原因：玷汙了的絕緣上漏（lòu）電或絕緣局部（bù）過熱而致的碳化痕跡或樹枝通道。

在放電測試中必須（xū）保證測試回路中其（qí）它（tā）元（yuán）件（試驗變壓（yā）器、阻塞線圈、耦合電容器、電壓表電阻等）均不放電，常用的辦法是用與試品電容數量級相同的無放電（diàn）電容或絕緣結構取代試品試驗，看看有無放電。

了解（jiě）了各種放電類型的波形特征，來源以及（jí）識別幹擾後就可按具體情況采取措施排除幹擾和正確地進行放電測量了。

第（dì）七章     局部放電測試當中（zhōng）應該注意（yì）的問題

實驗（yàn）前，試品的絕緣表麵（尤其是高壓端（duān））應作清潔化處理

2、   各連（lián）接（jiē）點應接觸良好（hǎo），尤其是（shì）高壓（yā）端不要留下尖銳的接點，高壓導線（xiàn）應盡可能粗以防電暈，可用蛇皮管。

輸入單（dān）元要盡量靠近試品，而（ér）且接地要可靠，接地（dì）線*好用

編織銅帶。主機（jī）也須接地，以（yǐ）保（bǎo）證**。

試（shì）驗（yàn）回路盡可能緊湊。即高壓連線盡可（kě）能短，試驗回路所圍麵

積盡可能小（xiǎo）。

在進行110KV及（jí）以上等（děng）級的局放試驗時，試品周圍的懸浮金屬

物體應妥善（shàn）接（jiē）地。

考慮到油浸式（shì）試品局部放電存在滯後效應，因此在局放試驗（yàn）前（qián）

幾小時（shí），不要對（duì）試品（pǐn）施加超過局（jú）部（bù）放電試驗電壓的高電壓。

第八章  附件

1、專用測量電纜線6米         2根（gēn）

2、電源線                     1根（gēn）

3、1.0A保險（xiǎn）絲                 4根

4、使用說明書                 1份

中新社北京6月6日電 (梁（liáng）奕（yì）)中國外交部發言（yán）人華春瑩6日在例行記者會上稱，朝鮮從事核（hé）導開發（fā）並使用彈道導彈技術進行發射（shè），明顯（xiǎn）違反安理會決議（yì）規定。第2356號決議表明了國際社會反對朝鮮發展核導計劃的立場（chǎng）。

有記者（zhě）問，近日，聯合國（guó）安理（lǐ）會一致通過了（le）第2356號決議，針對朝鮮從事（shì）彈道導彈試射等核、導開發（fā）活動（dòng），增列朝鮮受製裁個人和實體。中方對此有何評論？

華春瑩回應道（dào）：作為朝鮮（xiān）半島的近鄰，中方密切（qiē）關（guān）注半島局勢發展，始終堅（jiān）持實現半島無核化（huà）、堅持維（wéi）護半島和平穩定（dìng）、堅持通過對話（huà）協商解決問題的（de）立場。這是中方處理朝核（hé）問題，包括參與安理會（huì）審議時一貫秉持的立場。

華春（chūn）瑩強調，朝鮮從事核導開發（fā）並使用彈道（dào）導（dǎo）彈技術進行發（fā）射，明顯違反安理會決議規定。第2356號決議表明了國際社會反對朝鮮發展核導計劃的立場。同時，決議重申維護半（bàn）島和（hé）東北（běi）亞和平與穩定，承諾以（yǐ）和平、外交方式（shì）解決問題，並歡迎有關方麵為此所做努力。這符（fú）合（hé）中方的一貫（guàn）主張。中方希望有關各（gè）方都能**、平衡執行包括第2356號決議在內（nèi）的安理會涉朝決議，通（tōng）過防擴（kuò）散和促和談“雙加強”，推進（jìn）半島核問題和平解決。

“當前朝（cháo）鮮半島局勢複雜敏感，半島核（hé）問題正處在重回對話協商解決正軌的關鍵窗口期。中方希望有關各方多做有助於緩解緊張局勢、增進各方互信的事，避免（miǎn）采取加劇緊張的言行（háng）。我們也希望有關（guān）各方（fāng）積極考慮中方提出的（de）‘雙（shuāng）暫停’倡議和‘雙軌並行’思路，同中方一道堅（jiān）持推動對話（huà）協商（shāng），為推動半島無核化進程，實現半島（dǎo）和平穩定（dìng）作出努力。”華春瑩（yíng）說。