局部放電測試儀總線技術的回（huí）顧與展望

在測試測（cè）量領（lǐng）域，局部（bù）放電測試儀總線技（jì）術的發展曆（lì）來是工程師（shī）和科學家們*為關心的（de）部分（fèn）。從上世紀60年代推出的（de）專用於儀器控製的GPIB總線（xiàn），到現在被廣泛使用的USB、VXI、PXI和（hé）*新推出的LXI、PXI Express，不斷湧現的新型總線技術在幫助我們的工程師更快捷（jié）高效的完成測量任務的同時，也引起了行業內專家們的廣泛爭論，究竟哪一種總線將會主宰未（wèi）來的測試測量領域呢？

未來的趨勢——混合總線的測試（shì）係統

先讓我們回顧一下曆史，無（wú）論是GPIB還是串口（kǒu），都已經在測（cè）試行（háng）業應用超過了數十（shí）年，但至今仍有很多的工（gōng）程師在繼續使用 或購買（mǎi）相應的儀器。再來看（kàn）看幾乎已經退（tuì）出PC曆史舞台的ISA總線，在現在的一些工控機裏我們仍舊可以看到（dào）ISA插槽的身影，甚至有不少廠商（shāng）還在生產基於 ISA總線的數據采集卡和GPIB控製卡，滿足一部分客戶的需求（qiú）。可以說，任何一種總線都有其在行業內獨特的優勢，沒有一種總線會**到可以取代其它任（rèn）何的（de）總線。

所謂混（hún）合總（zǒng）線（xiàn）的（de）測（cè）試係統，就是（shì）在一個係統中集（jí）成多個自動化測試平台的不（bú）同部件（jiàn），包括PXI， PCI， GPIB， VXI， USB， LAN和LXI等不同的總線。從工程（chéng）師的角度來看，當設計一個測試係統時，往往需要平衡多方麵的（de）因（yīn）素。現在的產（chǎn）品變的越來越複雜，對混合信號測試的要求也就（jiù）越來越高，這樣就需要利（lì）用不同總線測試平台的優勢，搭建一個混合的測試係統來滿足測試的需求。例如您的係（xì）統可能（néng）需要像（xiàng）PXI和PCI Express等模塊化局（jú）部放電測試儀總線（xiàn）所提供的高吞吐量和優良的集成性，同時也可能（néng）需要基於USB或者LAN（包括LXI）的分立式儀器，完成一些特（tè）定的測（cè）試功能。此外，使用混合的係（xì）統，工程師們可以很容易的（de）在現有的係統上進行升級或是添加新的部件，而（ér）無需重新設（shè）計整個係統。同時，這樣的混合係統對軟件的架構提出了更高的要求，希望無論是在驅動服務層還是在應用軟（ruǎn）件層都能（néng）對不同的總線平台進行無縫的支持，也就是說，一個統一的軟件架構將成（chéng）為整個混合測試係統的核心（xīn）。